產(chǎn)品詳情
針對1.PCB和3.PCB檢測到9個(gè)故障(9個(gè)故障定義了有助于理解分布以及組件類型差異的數(shù)值)，針對2.PCB檢測了11個(gè)故障，故障足夠，因此在第6步之后不進(jìn)行測試，在焊點(diǎn)處觀察到一些故障，在將組件主體連接到引線的連接處觀察到一些故障。
奧地利Qness硬度計(jì)測不準(zhǔn)故障維修五小時(shí)內(nèi)修復(fù)搞定
我公司專業(yè)維修各種儀器，維修經(jīng)驗(yàn)二十年，維修的主要品牌有：英國Foundrax、美國GR、美國杰瑞、意大利Gibitre、意大利蓋比特、德國Hildebrand、海德堡、荷蘭Innovatest、德國KB、美國LECO力可、力可、日本Matsuzawa松澤、雷克斯、日本Mitutoyo三豐、瑞士PROCEQ博勢、奧地利Qness、美國Rex雷克斯、丹麥Struers司特爾、日本shimadzu島津、威爾遜等，儀器出現(xiàn)故障聯(lián)系凌科自動(dòng)化
3.4印刷儀器維修上的焊點(diǎn)應(yīng)力焊點(diǎn)對于電子封裝的可靠性至關(guān)重要，焊點(diǎn)中的應(yīng)力由力P和儀器維修彎曲所引起的力矩確定，印刷儀器維修可能僅在儀器維修的一側(cè)或兩側(cè)都有印刷電路(圖3.14)圖3.雙面儀器維修上的焊點(diǎn)[2]37焊料在儀器維修上方形成圓角。 55振動(dòng)臺(tái)振動(dòng)臺(tái)振動(dòng)臺(tái)圖38.振動(dòng)臺(tái)和滑臺(tái)[41]在實(shí)驗(yàn)中，使用了垂直放置的振動(dòng)臺(tái)，搖床由16通道LMS驅(qū)動(dòng)嗎SCADASIII數(shù)據(jù)采集硬件(圖39)和LMSTest，Lab軟件，圖39.LMSSCADASIII數(shù)據(jù)采集硬件[41]在實(shí)驗(yàn)過程中。
奧地利Qness硬度計(jì)測不準(zhǔn)故障維修五小時(shí)內(nèi)修復(fù)搞定
1、顯示屏無法正常顯示
當(dāng)硬度計(jì)顯示屏無法正確顯示信息時(shí)，先檢查電源是否正確連接。如果電源連接正常但顯示屏仍然不活動(dòng)，則可能表示屏幕出現(xiàn)故障。這種情況，建議將硬度計(jì)送回廠家維修或更換屏幕。
2、讀數(shù)不穩(wěn)定或顯著偏差
如果硬度計(jì)在測試過程中顯示讀數(shù)不穩(wěn)定或出現(xiàn)明顯偏差，可能的原因包括：
缺乏校準(zhǔn)：硬度計(jì)在使用前需要校準(zhǔn)，以確保準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。長期缺乏校準(zhǔn)或校準(zhǔn)不當(dāng)可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。解決方案是定期校準(zhǔn)并遵循硬度計(jì)手冊中的說明。
測試環(huán)境不穩(wěn)定：硬度測試應(yīng)在穩(wěn)定的環(huán)境下進(jìn)行，避免外界干擾。不良的測試環(huán)境可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。解決辦法是測試時(shí)選擇安靜且溫度穩(wěn)定的環(huán)境，避免其他設(shè)備的干擾。
樣品制備不當(dāng)：在硬度測試之前，必須對樣品進(jìn)行的制備。樣品的表面不規(guī)則性、雜質(zhì)或涂層可能會(huì)影響測試結(jié)果。解決方案是在測試前清潔和拋光樣品，以確保表面光滑。
并且自組件維修以來已經(jīng)過去了大約一年，則您的伺服組件很可能已準(zhǔn)備好進(jìn)行檢查和預(yù)防性維修，您的伺服組件可能尚未發(fā)生故障，但是預(yù)防性檢查和維修將使您避免意外的停機(jī)時(shí)間，通過預(yù)防性檢查和維修，將替換伺服設(shè)備中所有受污染和損壞的組件。 第二次掉落的時(shí)間(，7小時(shí))被視為故障點(diǎn)，因?yàn)殡娮柚档陀?05歐姆，比初始值106歐姆低了十倍，1010109(Ohm)108107電阻106105104103102010203040時(shí)間(小時(shí))對照樣品的電阻監(jiān)控。 有限元振動(dòng)分析結(jié)果表明，其中五個(gè)模態(tài)低于2000Hz，對模式形狀的進(jìn)一步檢查表明，所有這些模式都與蓋子，盒子的底部有關(guān)，它們?nèi)匀徊辉?0-2000Hz的頻率范圍內(nèi)，表5，帶有蓋子的盒子的固有頻率模式頻率[Hz]1527298031217414065143762014組件的前三個(gè)模式是頂蓋的板振動(dòng)模式。
3、壓頭磨損或損壞
硬度計(jì)的壓頭直接接觸測試樣品，長時(shí)間使用后可能會(huì)出現(xiàn)磨損或損壞。當(dāng)壓頭出現(xiàn)磨損或損壞跡象時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致測試錯(cuò)誤。解決辦法是定期檢查壓頭的狀況，如果發(fā)現(xiàn)明顯磨損或損壞，應(yīng)及時(shí)更換。
4、讀數(shù)異常大或小
如果硬度計(jì)讀數(shù)明顯偏離標(biāo)準(zhǔn)值，可能的原因包括：
壓力調(diào)整不當(dāng)：硬度計(jì)在測試時(shí)需要施加一定的壓力，壓力過大或不足都可能導(dǎo)致讀數(shù)異常。解決方法是根據(jù)樣品的硬度特性調(diào)整測試壓力。
硬度計(jì)的內(nèi)部問題：硬度計(jì)的內(nèi)部組件可能會(huì)出現(xiàn)故障，導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。解決辦法是對硬度計(jì)進(jìn)行定期維護(hù)，并按照制造商的說明進(jìn)行維修或更換部件。
5、無法執(zhí)行自動(dòng)轉(zhuǎn)換
一些先進(jìn)的硬度計(jì)具有自動(dòng)轉(zhuǎn)換功能，但有時(shí)可能無法運(yùn)行。解決方法是檢查硬度計(jì)設(shè)置，確保正確選擇硬度標(biāo)準(zhǔn)和換算單位
必須卸下板進(jìn)行檢查，這可能會(huì)損壞連接器或引起其他處理引起的問題，目視檢查僅限于肉眼可見的特征(即，假設(shè)電路老化條件會(huì)留下外部痕跡，例如在過熱區(qū)域改變儀器維修的顏色)，許多前體老化失效模式是無法觀察到的(例如。 并有助于通過絡(luò)合增加膜中金屬離子16的穩(wěn)定性，從而增加金屬遷移的可能性，當(dāng)硫酸鹽水開始明顯上升到超過3.0米克/英寸2時(shí)，可能會(huì)在此過程中使用含硫酸鹽的化學(xué)品，例如過硫酸鈉/過硫酸銨或硫酸，作為保守的立場。 桶形裂紋，拐角裂紋，微孔頂部和捕獲焊盤頂部周圍的圓周裂紋以及微孔配準(zhǔn)不良，測試方法–使用經(jīng)過改進(jìn)的方法，通過互連應(yīng)力測試(IST)進(jìn)行微孔測試，該方法記錄在IPC測試方法手冊TM650，方法2.6.26。
有趣的是，在許多情況下，當(dāng)今板電源的限制因素與互連有關(guān)，包括在PCB上走線和走線以及連接器和背板的限制。隨著這些問題在未來幾年內(nèi)得到解決，功率密度將恢復(fù)上升勢頭。這將迫使空調(diào)房間脫離傳統(tǒng)的風(fēng)扇冷卻框架，從而導(dǎo)致引入液體冷卻。迎接挑戰(zhàn)：北電網(wǎng)絡(luò)的熱設(shè)計(jì)流程在北電網(wǎng)絡(luò)，熱設(shè)計(jì)過程分為四個(gè)階段來應(yīng)對熱設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)：1.概念熱工程人員必須在系統(tǒng)包裝設(shè)計(jì)的概念階段參與多學(xué)科團(tuán)隊(duì)，以確保為產(chǎn)品及其環(huán)境選擇正確的體系結(jié)構(gòu)。該團(tuán)隊(duì)包括來自熱，安全，EMC，互連，制造，人機(jī)界面，終用戶和其他需要的代表。例如，熱工程師確定自然對流是否足以冷卻系統(tǒng)或是否需要貨車。什么板間距就足夠了，依此類推。此處使用了人工計(jì)算，技術(shù)演示工具。
讓我們以一個(gè)LED封裝示例為例，其中LED的直徑為3mm，引腳間距為2.54mm，引腳的直徑為0.6mm，在PCB庫的界面中:一種，墊的放置①，焊盤的通孔直徑=組件引腳的直徑+0.3mm+0.9mm,墊設(shè)計(jì)為圓形。 通過使用這些方法進(jìn)行有限壽命計(jì)算，可以將耐久限替換為與應(yīng)力條件S和S所獲得的壽命相同壽命的純交替應(yīng)力(零均應(yīng)力)水，然后可以在SN圖上輸入交變應(yīng)力以獲得組件的壽命，但是，為了能夠使用這些經(jīng)驗(yàn)方法，要求必須了解壓力與時(shí)間的信息。 如果電纜內(nèi)部的單根電線的絕緣性能下降，則裸露的電線會(huì)相互通過，從而導(dǎo)致伺服設(shè)備短路，嘗試使冷卻劑遠(yuǎn)離電纜，并經(jīng)常檢查電纜是否有劣化跡象，8.過度使用設(shè)備在高電流下長時(shí)間運(yùn)行伺服設(shè)備會(huì)導(dǎo)致定子短路，伺服設(shè)備應(yīng)在一定的額定容量下運(yùn)行。 智能手機(jī)設(shè)計(jì)人員非常巧妙地利用了行業(yè)中不斷發(fā)展的小型化趨勢所提供的所有可能性，顯然，對于智能電話設(shè)備的印刷儀器維修(PCB)的生產(chǎn)商來說，有必要采用這種需求并顯著減小其PCB的厚度，推出批智能手機(jī)的時(shí)期恰逢HDI技術(shù)在PCB制造領(lǐng)域的突破[2]。 這種系統(tǒng)的阻抗響應(yīng)需要同時(shí)考慮動(dòng)力學(xué)和傳質(zhì)過程，蘭德斯電路是從這樣的系統(tǒng)派生的廣泛使用的等效電路，它由與雙層電容Cdl和法拉第反應(yīng)的阻抗并聯(lián)組合的串聯(lián)的活性電解質(zhì)電阻RS組成，有關(guān)Randles電路的表。
（其中一些已經(jīng)列出在“測試設(shè)備”標(biāo)題下）。但是，這有點(diǎn)倒識(shí)別需要維修的每種類型的設(shè)備。電視：VHF和UHF天線和/或VCR或其他具有射頻和基帶（RCA插頭）輸出。VCR：一臺(tái)小型電視（好是彩色電視，但單色電視就足夠了用于許多測試）和/或NTSC/PAL視頻監(jiān)視器，天線，已知良好SP和SLP速度的錄像帶。另外，幾個(gè)空白用于記錄測試的盒帶。攝錄機(jī)：與VCR相同，但另外還有測試圖，三腳架和室內(nèi)測試燈。CD和Laserdisc播放器：-垃圾CD和測試CD（或Laserdiscs）。垃圾光盤是您不關(guān)心的光盤，如果它被刮擦了。測試光盤不必是正式的（且昂貴的）測試光盤-任何已知的光盤都可用于大多數(shù)測試。垃圾光盤甚至可以是過時(shí)的CDROM-音頻CD播放器通常會(huì)讀取CDROM的目錄。
以下是可用于此目的的分步過程：1.在ESS過程中收集故障率數(shù)據(jù)：必須在發(fā)生故障時(shí)以及發(fā)生故障時(shí)收集故障數(shù)據(jù)。還必須注意發(fā)生故障的時(shí)間。無論是否存在故障，都必須收集并記錄所有被測項(xiàng)目的數(shù)據(jù)。2.準(zhǔn)備故障率與時(shí)間的關(guān)系圖：如果，1.故障率隨時(shí)間降低，則有機(jī)會(huì)通過對產(chǎn)品故障采取糾正措施來進(jìn)一步降低故障率。3.如果故障率恒定，則意味著i）無法再進(jìn)行任何改進(jìn)，因?yàn)楫a(chǎn)品已經(jīng)進(jìn)入浴盆曲線的坦區(qū)域（僅發(fā)生隨機(jī)故障）?；騣i）施加的應(yīng)力水尚未達(dá)到缺陷位置，因此，應(yīng)修改（增強(qiáng)）施加的應(yīng)力水以帶出潛在的缺陷。4.如果故障率隨時(shí)間增加，則可能是由于以下原因之I）應(yīng)力水很高，并且會(huì)在產(chǎn)品中引起不自然的缺陷。應(yīng)修改施加的應(yīng)力水以僅顯示潛在缺陷。
奧地利Qness硬度計(jì)測不準(zhǔn)故障維修五小時(shí)內(nèi)修復(fù)搞定剝離光致抗蝕劑，并蝕刻暴露的種子層，以使銅線彼此（右）。電鍍率均勻度該工藝的一個(gè)已知問題是，整個(gè)PCB上的鍍覆速率并不總是均勻的。電解質(zhì)中的電場集中到導(dǎo)電圖案，該導(dǎo)電圖案被大的絕緣區(qū)域圍繞著，并且集中在靠PCB邊緣的圖案中。電場中的這些不均勻性會(huì)導(dǎo)致這些區(qū)域中陰表面的局部更高的電流密度-這種效應(yīng)通常稱為電流擁擠。電鍍的厚度與電流密度隨時(shí)間成正比，這會(huì)導(dǎo)致整個(gè)PCB上的銅線的厚度出現(xiàn)不希望的變化。這意味著PCB中不同位置的銅線之間會(huì)有電阻變化。這種變化可能是性能問題的根本原因，或者在壞的情況下，是在電子設(shè)備中使用PCB時(shí)設(shè)備故障的根本原因。模型顯示了電鍍液。突出顯示電場中不均勻性的照片。在銅圖案電鍍步驟中。 kjbaeedfwerfws
奧地利Qness硬度計(jì)測不準(zhǔn)故障維修五小時(shí)內(nèi)修復(fù)搞定
我公司專業(yè)維修各種儀器，維修經(jīng)驗(yàn)二十年，維修的主要品牌有：英國Foundrax、美國GR、美國杰瑞、意大利Gibitre、意大利蓋比特、德國Hildebrand、海德堡、荷蘭Innovatest、德國KB、美國LECO力可、力可、日本Matsuzawa松澤、雷克斯、日本Mitutoyo三豐、瑞士PROCEQ博勢、奧地利Qness、美國Rex雷克斯、丹麥Struers司特爾、日本shimadzu島津、威爾遜等，儀器出現(xiàn)故障聯(lián)系凌科自動(dòng)化
3.4印刷儀器維修上的焊點(diǎn)應(yīng)力焊點(diǎn)對于電子封裝的可靠性至關(guān)重要，焊點(diǎn)中的應(yīng)力由力P和儀器維修彎曲所引起的力矩確定，印刷儀器維修可能僅在儀器維修的一側(cè)或兩側(cè)都有印刷電路(圖3.14)圖3.雙面儀器維修上的焊點(diǎn)[2]37焊料在儀器維修上方形成圓角。 55振動(dòng)臺(tái)振動(dòng)臺(tái)振動(dòng)臺(tái)圖38.振動(dòng)臺(tái)和滑臺(tái)[41]在實(shí)驗(yàn)中，使用了垂直放置的振動(dòng)臺(tái)，搖床由16通道LMS驅(qū)動(dòng)嗎SCADASIII數(shù)據(jù)采集硬件(圖39)和LMSTest，Lab軟件，圖39.LMSSCADASIII數(shù)據(jù)采集硬件[41]在實(shí)驗(yàn)過程中。
奧地利Qness硬度計(jì)測不準(zhǔn)故障維修五小時(shí)內(nèi)修復(fù)搞定
1、顯示屏無法正常顯示
當(dāng)硬度計(jì)顯示屏無法正確顯示信息時(shí)，先檢查電源是否正確連接。如果電源連接正常但顯示屏仍然不活動(dòng)，則可能表示屏幕出現(xiàn)故障。這種情況，建議將硬度計(jì)送回廠家維修或更換屏幕。
2、讀數(shù)不穩(wěn)定或顯著偏差
如果硬度計(jì)在測試過程中顯示讀數(shù)不穩(wěn)定或出現(xiàn)明顯偏差，可能的原因包括：
缺乏校準(zhǔn)：硬度計(jì)在使用前需要校準(zhǔn)，以確保準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。長期缺乏校準(zhǔn)或校準(zhǔn)不當(dāng)可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。解決方案是定期校準(zhǔn)并遵循硬度計(jì)手冊中的說明。
測試環(huán)境不穩(wěn)定：硬度測試應(yīng)在穩(wěn)定的環(huán)境下進(jìn)行，避免外界干擾。不良的測試環(huán)境可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。解決辦法是測試時(shí)選擇安靜且溫度穩(wěn)定的環(huán)境，避免其他設(shè)備的干擾。
樣品制備不當(dāng)：在硬度測試之前，必須對樣品進(jìn)行的制備。樣品的表面不規(guī)則性、雜質(zhì)或涂層可能會(huì)影響測試結(jié)果。解決方案是在測試前清潔和拋光樣品，以確保表面光滑。
并且自組件維修以來已經(jīng)過去了大約一年，則您的伺服組件很可能已準(zhǔn)備好進(jìn)行檢查和預(yù)防性維修，您的伺服組件可能尚未發(fā)生故障，但是預(yù)防性檢查和維修將使您避免意外的停機(jī)時(shí)間，通過預(yù)防性檢查和維修，將替換伺服設(shè)備中所有受污染和損壞的組件。 第二次掉落的時(shí)間(，7小時(shí))被視為故障點(diǎn)，因?yàn)殡娮柚档陀?05歐姆，比初始值106歐姆低了十倍，1010109(Ohm)108107電阻106105104103102010203040時(shí)間(小時(shí))對照樣品的電阻監(jiān)控。 有限元振動(dòng)分析結(jié)果表明，其中五個(gè)模態(tài)低于2000Hz，對模式形狀的進(jìn)一步檢查表明，所有這些模式都與蓋子，盒子的底部有關(guān)，它們?nèi)匀徊辉?0-2000Hz的頻率范圍內(nèi)，表5，帶有蓋子的盒子的固有頻率模式頻率[Hz]1527298031217414065143762014組件的前三個(gè)模式是頂蓋的板振動(dòng)模式。
3、壓頭磨損或損壞
硬度計(jì)的壓頭直接接觸測試樣品，長時(shí)間使用后可能會(huì)出現(xiàn)磨損或損壞。當(dāng)壓頭出現(xiàn)磨損或損壞跡象時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致測試錯(cuò)誤。解決辦法是定期檢查壓頭的狀況，如果發(fā)現(xiàn)明顯磨損或損壞，應(yīng)及時(shí)更換。
4、讀數(shù)異常大或小
如果硬度計(jì)讀數(shù)明顯偏離標(biāo)準(zhǔn)值，可能的原因包括：
壓力調(diào)整不當(dāng)：硬度計(jì)在測試時(shí)需要施加一定的壓力，壓力過大或不足都可能導(dǎo)致讀數(shù)異常。解決方法是根據(jù)樣品的硬度特性調(diào)整測試壓力。
硬度計(jì)的內(nèi)部問題：硬度計(jì)的內(nèi)部組件可能會(huì)出現(xiàn)故障，導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。解決辦法是對硬度計(jì)進(jìn)行定期維護(hù)，并按照制造商的說明進(jìn)行維修或更換部件。
5、無法執(zhí)行自動(dòng)轉(zhuǎn)換
一些先進(jìn)的硬度計(jì)具有自動(dòng)轉(zhuǎn)換功能，但有時(shí)可能無法運(yùn)行。解決方法是檢查硬度計(jì)設(shè)置，確保正確選擇硬度標(biāo)準(zhǔn)和換算單位
必須卸下板進(jìn)行檢查，這可能會(huì)損壞連接器或引起其他處理引起的問題，目視檢查僅限于肉眼可見的特征(即，假設(shè)電路老化條件會(huì)留下外部痕跡，例如在過熱區(qū)域改變儀器維修的顏色)，許多前體老化失效模式是無法觀察到的(例如。 并有助于通過絡(luò)合增加膜中金屬離子16的穩(wěn)定性，從而增加金屬遷移的可能性，當(dāng)硫酸鹽水開始明顯上升到超過3.0米克/英寸2時(shí)，可能會(huì)在此過程中使用含硫酸鹽的化學(xué)品，例如過硫酸鈉/過硫酸銨或硫酸，作為保守的立場。 桶形裂紋，拐角裂紋，微孔頂部和捕獲焊盤頂部周圍的圓周裂紋以及微孔配準(zhǔn)不良，測試方法–使用經(jīng)過改進(jìn)的方法，通過互連應(yīng)力測試(IST)進(jìn)行微孔測試，該方法記錄在IPC測試方法手冊TM650，方法2.6.26。
有趣的是，在許多情況下，當(dāng)今板電源的限制因素與互連有關(guān)，包括在PCB上走線和走線以及連接器和背板的限制。隨著這些問題在未來幾年內(nèi)得到解決，功率密度將恢復(fù)上升勢頭。這將迫使空調(diào)房間脫離傳統(tǒng)的風(fēng)扇冷卻框架，從而導(dǎo)致引入液體冷卻。迎接挑戰(zhàn)：北電網(wǎng)絡(luò)的熱設(shè)計(jì)流程在北電網(wǎng)絡(luò)，熱設(shè)計(jì)過程分為四個(gè)階段來應(yīng)對熱設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)：1.概念熱工程人員必須在系統(tǒng)包裝設(shè)計(jì)的概念階段參與多學(xué)科團(tuán)隊(duì)，以確保為產(chǎn)品及其環(huán)境選擇正確的體系結(jié)構(gòu)。該團(tuán)隊(duì)包括來自熱，安全，EMC，互連，制造，人機(jī)界面，終用戶和其他需要的代表。例如，熱工程師確定自然對流是否足以冷卻系統(tǒng)或是否需要貨車。什么板間距就足夠了，依此類推。此處使用了人工計(jì)算，技術(shù)演示工具。
讓我們以一個(gè)LED封裝示例為例，其中LED的直徑為3mm，引腳間距為2.54mm，引腳的直徑為0.6mm，在PCB庫的界面中:一種，墊的放置①，焊盤的通孔直徑=組件引腳的直徑+0.3mm+0.9mm,墊設(shè)計(jì)為圓形。 通過使用這些方法進(jìn)行有限壽命計(jì)算，可以將耐久限替換為與應(yīng)力條件S和S所獲得的壽命相同壽命的純交替應(yīng)力(零均應(yīng)力)水，然后可以在SN圖上輸入交變應(yīng)力以獲得組件的壽命，但是，為了能夠使用這些經(jīng)驗(yàn)方法，要求必須了解壓力與時(shí)間的信息。 如果電纜內(nèi)部的單根電線的絕緣性能下降，則裸露的電線會(huì)相互通過，從而導(dǎo)致伺服設(shè)備短路，嘗試使冷卻劑遠(yuǎn)離電纜，并經(jīng)常檢查電纜是否有劣化跡象，8.過度使用設(shè)備在高電流下長時(shí)間運(yùn)行伺服設(shè)備會(huì)導(dǎo)致定子短路，伺服設(shè)備應(yīng)在一定的額定容量下運(yùn)行。 智能手機(jī)設(shè)計(jì)人員非常巧妙地利用了行業(yè)中不斷發(fā)展的小型化趨勢所提供的所有可能性，顯然，對于智能電話設(shè)備的印刷儀器維修(PCB)的生產(chǎn)商來說，有必要采用這種需求并顯著減小其PCB的厚度，推出批智能手機(jī)的時(shí)期恰逢HDI技術(shù)在PCB制造領(lǐng)域的突破[2]。 這種系統(tǒng)的阻抗響應(yīng)需要同時(shí)考慮動(dòng)力學(xué)和傳質(zhì)過程，蘭德斯電路是從這樣的系統(tǒng)派生的廣泛使用的等效電路，它由與雙層電容Cdl和法拉第反應(yīng)的阻抗并聯(lián)組合的串聯(lián)的活性電解質(zhì)電阻RS組成，有關(guān)Randles電路的表。
（其中一些已經(jīng)列出在“測試設(shè)備”標(biāo)題下）。但是，這有點(diǎn)倒識(shí)別需要維修的每種類型的設(shè)備。電視：VHF和UHF天線和/或VCR或其他具有射頻和基帶（RCA插頭）輸出。VCR：一臺(tái)小型電視（好是彩色電視，但單色電視就足夠了用于許多測試）和/或NTSC/PAL視頻監(jiān)視器，天線，已知良好SP和SLP速度的錄像帶。另外，幾個(gè)空白用于記錄測試的盒帶。攝錄機(jī)：與VCR相同，但另外還有測試圖，三腳架和室內(nèi)測試燈。CD和Laserdisc播放器：-垃圾CD和測試CD（或Laserdiscs）。垃圾光盤是您不關(guān)心的光盤，如果它被刮擦了。測試光盤不必是正式的（且昂貴的）測試光盤-任何已知的光盤都可用于大多數(shù)測試。垃圾光盤甚至可以是過時(shí)的CDROM-音頻CD播放器通常會(huì)讀取CDROM的目錄。
以下是可用于此目的的分步過程：1.在ESS過程中收集故障率數(shù)據(jù)：必須在發(fā)生故障時(shí)以及發(fā)生故障時(shí)收集故障數(shù)據(jù)。還必須注意發(fā)生故障的時(shí)間。無論是否存在故障，都必須收集并記錄所有被測項(xiàng)目的數(shù)據(jù)。2.準(zhǔn)備故障率與時(shí)間的關(guān)系圖：如果，1.故障率隨時(shí)間降低，則有機(jī)會(huì)通過對產(chǎn)品故障采取糾正措施來進(jìn)一步降低故障率。3.如果故障率恒定，則意味著i）無法再進(jìn)行任何改進(jìn)，因?yàn)楫a(chǎn)品已經(jīng)進(jìn)入浴盆曲線的坦區(qū)域（僅發(fā)生隨機(jī)故障）?；騣i）施加的應(yīng)力水尚未達(dá)到缺陷位置，因此，應(yīng)修改（增強(qiáng)）施加的應(yīng)力水以帶出潛在的缺陷。4.如果故障率隨時(shí)間增加，則可能是由于以下原因之I）應(yīng)力水很高，并且會(huì)在產(chǎn)品中引起不自然的缺陷。應(yīng)修改施加的應(yīng)力水以僅顯示潛在缺陷。
奧地利Qness硬度計(jì)測不準(zhǔn)故障維修五小時(shí)內(nèi)修復(fù)搞定剝離光致抗蝕劑，并蝕刻暴露的種子層，以使銅線彼此（右）。電鍍率均勻度該工藝的一個(gè)已知問題是，整個(gè)PCB上的鍍覆速率并不總是均勻的。電解質(zhì)中的電場集中到導(dǎo)電圖案，該導(dǎo)電圖案被大的絕緣區(qū)域圍繞著，并且集中在靠PCB邊緣的圖案中。電場中的這些不均勻性會(huì)導(dǎo)致這些區(qū)域中陰表面的局部更高的電流密度-這種效應(yīng)通常稱為電流擁擠。電鍍的厚度與電流密度隨時(shí)間成正比，這會(huì)導(dǎo)致整個(gè)PCB上的銅線的厚度出現(xiàn)不希望的變化。這意味著PCB中不同位置的銅線之間會(huì)有電阻變化。這種變化可能是性能問題的根本原因，或者在壞的情況下，是在電子設(shè)備中使用PCB時(shí)設(shè)備故障的根本原因。模型顯示了電鍍液。突出顯示電場中不均勻性的照片。在銅圖案電鍍步驟中。 kjbaeedfwerfws
