產(chǎn)品詳情
當(dāng)1軸放大器的主電路或2軸放大器的L軸的主電路中流過異常大電流時(shí)，發(fā)生報(bào)警，*原因可能包括IC故障，PWM信號(hào)異常，電機(jī)故障和接地線，報(bào)警代碼2控制電源欠壓警報(bào)(LV5V)，如果控制電路電源電壓(+5V)異常過低(LV5V電:4.6VDC)。
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我公司專業(yè)維修各種儀器，維修經(jīng)驗(yàn)二十年，維修的主要品牌有：英國(guó)Foundrax、美國(guó)GR、美國(guó)杰瑞、意大利Gibitre、意大利蓋比特、德國(guó)Hildebrand、海德堡、荷蘭Innovatest、德國(guó)KB、美國(guó)LECO力可、力可、日本Matsuzawa松澤、雷克斯、日本Mitutoyo三豐、瑞士PROCEQ博勢(shì)、奧地利Qness、美國(guó)Rex雷克斯、丹麥Struers司特爾、日本shimadzu島津、威爾遜等，儀器出現(xiàn)故障聯(lián)系凌科自動(dòng)化
下表5.20中基于模型的測(cè)試結(jié)果與彼此一致，不同之處在于較高模式下的透射率值不匹配，損壞的SM(以紅色顯示)和未損壞的表面貼裝電容器的總累積損壞數(shù)在附錄中給出-一世，表5.通過透射率測(cè)試獲得的諧振頻率和透射率的比較陶瓷表面貼裝電容器的數(shù)值分析模式#固有頻率[Hz]傳輸率測(cè)試模擬陶瓷SM電容器壽命測(cè)試。 這推動(dòng)了印刷電路基板向當(dāng)今使用的多層印刷儀器維修的演進(jìn)，減小的導(dǎo)體間距，小直徑的通孔以及多層上的鍍通孔(PTH)可能導(dǎo)致PCB變得更容易形成導(dǎo)電絲(CFF)，CFF是一種電化學(xué)過程，涉及在施加電場(chǎng)的影響下。
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1、顯示屏無法正常顯示
當(dāng)硬度計(jì)顯示屏無法正確顯示信息時(shí)，先檢查電源是否正確連接。如果電源連接正常但顯示屏仍然不活動(dòng)，則可能表示屏幕出現(xiàn)故障。這種情況，建議將硬度計(jì)送回廠家維修或更換屏幕。
2、讀數(shù)不穩(wěn)定或顯著偏差
如果硬度計(jì)在測(cè)試過程中顯示讀數(shù)不穩(wěn)定或出現(xiàn)明顯偏差，可能的原因包括：
缺乏校準(zhǔn)：硬度計(jì)在使用前需要校準(zhǔn)，以確保準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。長(zhǎng)期缺乏校準(zhǔn)或校準(zhǔn)不當(dāng)可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。解決方案是定期校準(zhǔn)并遵循硬度計(jì)手冊(cè)中的說明。
測(cè)試環(huán)境不穩(wěn)定：硬度測(cè)試應(yīng)在穩(wěn)定的環(huán)境下進(jìn)行，避免外界干擾。不良的測(cè)試環(huán)境可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。解決辦法是測(cè)試時(shí)選擇安靜且溫度穩(wěn)定的環(huán)境，避免其他設(shè)備的干擾。
樣品制備不當(dāng)：在硬度測(cè)試之前，必須對(duì)樣品進(jìn)行的制備。樣品的表面不規(guī)則性、雜質(zhì)或涂層可能會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。解決方案是在測(cè)試前清潔和拋光樣品，以確保表面光滑。
有可能的輸出出現(xiàn)故障，需要維修驅(qū)動(dòng)單元說明:過溫故障，由于機(jī)柜中的A/C或氣流系統(tǒng)而導(dǎo)致的常見故障未能導(dǎo)致溫度大幅升高，從而損壞了內(nèi)部控件和電子設(shè)備，其次，您的IGBT失效或無法有效點(diǎn)火，從而導(dǎo)致過熱。 這造成了惡性循環(huán)，另外，如果您的泵系統(tǒng)中有污染物，它將吞噬泵上的密封件，這些密封件會(huì)將冷卻劑泵入過程中，以防止切削工具和產(chǎn)品過熱，連接到泵上的電動(dòng)機(jī)密封圈會(huì)被污染腐蝕，電動(dòng)機(jī)開始更加努力地工作，故障變得更加明顯。 2x19針型連接器的伸出長(zhǎng)度和寬度與1X4針型連接器的伸出長(zhǎng)度和寬度不同，以便在這些峰值加速度計(jì)位置輸入共振透射率，為了記錄輸出信號(hào)，使用了微型輕型PCB352A24加速度計(jì)[67]，參考信號(hào)(輸入)是通過使用PCB夾具下的振動(dòng)篩上的PCB356A16加速度計(jì)記錄的。
3、壓頭磨損或損壞
硬度計(jì)的壓頭直接接觸測(cè)試樣品，長(zhǎng)時(shí)間使用后可能會(huì)出現(xiàn)磨損或損壞。當(dāng)壓頭出現(xiàn)磨損或損壞跡象時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試錯(cuò)誤。解決辦法是定期檢查壓頭的狀況，如果發(fā)現(xiàn)明顯磨損或損壞，應(yīng)及時(shí)更換。
4、讀數(shù)異常大或小
如果硬度計(jì)讀數(shù)明顯偏離標(biāo)準(zhǔn)值，可能的原因包括：
壓力調(diào)整不當(dāng)：硬度計(jì)在測(cè)試時(shí)需要施加一定的壓力，壓力過大或不足都可能導(dǎo)致讀數(shù)異常。解決方法是根據(jù)樣品的硬度特性調(diào)整測(cè)試壓力。
硬度計(jì)的內(nèi)部問題：硬度計(jì)的內(nèi)部組件可能會(huì)出現(xiàn)故障，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。解決辦法是對(duì)硬度計(jì)進(jìn)行定期維護(hù)，并按照制造商的說明進(jìn)行維修或更換部件。
5、無法執(zhí)行自動(dòng)轉(zhuǎn)換
一些先進(jìn)的硬度計(jì)具有自動(dòng)轉(zhuǎn)換功能，但有時(shí)可能無法運(yùn)行。解決方法是檢查硬度計(jì)設(shè)置，確保正確選擇硬度標(biāo)準(zhǔn)和換算單位
AC裝置的進(jìn)氣口和過濾器上都有過濾器，隨著時(shí)間的流逝，它們會(huì)被堵塞而被污染，切割或加工過程中產(chǎn)生的污染物(例如切削液和液壓液)會(huì)傳播到空氣中，并堵塞AC單元上的過濾器，然后，AC單元開始過度工作，并且在卡住或發(fā)生故障后不久就開始工作。 引線之間枝晶生長(zhǎng)的SEM像引線之間基板上EDS映射分析的結(jié)果54顯示了遷移路徑的前端(靠陽(yáng))，一些金屬顆粒分散在基板上，并與許多顆粒污染物混合，而不是形成連續(xù)的遷移路徑，遷移路徑前端(靠陽(yáng))的SEM像122在此區(qū)域執(zhí)行了高倍SEM成像和EDS元素分析。 根[40]研究了特定類型電容器的振動(dòng)疲勞壽命，例如軸向鉛鉭和鋁電容器，CirVibe軟件用于有限元建模，進(jìn)行模態(tài)和透射率測(cè)試，并將這些測(cè)試的輸出用于疲勞分析，本研究的主要考慮因素是估計(jì)疲勞壽命，因此進(jìn)行了加速壽命測(cè)試。
下面給出了在不同領(lǐng)域中實(shí)施PHM的示例，并且可以在《電子學(xué)的預(yù)測(cè)和健康管理》[6]一書中找到參考。Tuchband等。（2007）[7]提出了基于其生命周期負(fù)荷的線可更換單元（LRU）的預(yù)測(cè)方法。該研究是美國(guó)部長(zhǎng)辦公室資助的一項(xiàng)工作的一部分，該工作旨在為美國(guó)軍方開發(fā)交互式供應(yīng)鏈系統(tǒng)。目的是通過Web門戶集成預(yù)測(cè)，無線通信和數(shù)據(jù)庫(kù)，以實(shí)現(xiàn)具有成本效益的電子維護(hù)和更換。這項(xiàng)研究表明，基于預(yù)測(cè)的維護(hù)計(jì)劃可以在電子系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)。該方法涉及集成可更換單元上的嵌入式傳感器，用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)臒o線通信，數(shù)據(jù)簡(jiǎn)化工具，基于PoF的損害估計(jì)算法以及將該信息上載到Internet的方法。航天Shetty等。（2002年）[8]應(yīng)用PHM方法對(duì)航天飛機(jī)遠(yuǎn)程操縱器系統(tǒng)的機(jī)械臂內(nèi)部的末端執(zhí)行器電子單元（EEEU）進(jìn)行了預(yù)后剩余壽命評(píng)估。
我們會(huì)建議TCi用于任何專注于地質(zhì)和/或原位應(yīng)用的研究或篩選，我們將繼續(xù)在新的勘探任務(wù)中使用它，"印刷儀器維修或PCB是用于放置不同元件的板或板，這些元件符合包含它們之間的電氣互連的電路，簡(jiǎn)單的印刷儀器維修是僅在其表面之一上包含銅線或互連的板。 這是PCB上大的組件(表18)，控制加速度計(jì)附在夾具上，正弦掃描測(cè)試在5-2000Hz之間進(jìn)行，在圖45中給出了獲得的透射率圖，0線性Hz圖45.大組件的透射率(實(shí)驗(yàn)5)從組件的透射率圖在感興趣的頻率范圍內(nèi)觀察到四個(gè)峰值。 分析模型的固有頻率結(jié)果與有限元振動(dòng)分析結(jié)果非常吻合，通過使用解析模型直到共振之后的頻率，可以非常準(zhǔn)確地獲得對(duì)隨機(jī)振動(dòng)輸入的響應(yīng)，從這些結(jié)果可以得出結(jié)論，該分析模型可以成功地用于PCB的初步振動(dòng)分析，在初步設(shè)計(jì)期間。 將發(fā)生故障的電容器與硅樹脂粘合到印刷儀器維修上，表5.15列出了用硅樹脂增強(qiáng)的鋁電解電容器填充的PCB的SST的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試結(jié)果522.8108重新排列了這些故障時(shí)間，以表示如果從第1步開始啟動(dòng)SST將會(huì)發(fā)生的故障時(shí)間。 這是因?yàn)榻M件可能會(huì)根據(jù)其位置而經(jīng)歷數(shù)量級(jí)的壽命變化，因此，將計(jì)算出的疲勞損傷與確定的壽命限(通過SST獲得)進(jìn)行比較非常重要，以便確定在必要時(shí)哪些組件必須移到損壞較小的位置，此外，組件能力的數(shù)值可用于整個(gè)設(shè)計(jì)配置。
尋找機(jī)械損壞，過熱，異常聲音和氣味等的跡象。測(cè)試設(shè)備的運(yùn)行情況，包括其所有功能。記下任何無法正常運(yùn)行的功能。確保非常仔細(xì)地觀察這些操作。這可以為您提供有關(guān)設(shè)備所有部分的許多有價(jià)值的信息。步驟2–定義問題區(qū)域在此階段，您可以對(duì)觀察結(jié)果應(yīng)用邏輯和推理，以確定故障設(shè)備的問題區(qū)域。通常，當(dāng)設(shè)備發(fā)生故障時(shí)，設(shè)備的某些部分會(huì)正常工作，而其他部分則無法正常工作。關(guān)鍵是要使用您的觀察（從步驟1開始）來排除設(shè)備或電路中運(yùn)行正常且不會(huì)導(dǎo)致故障原因的部分。您應(yīng)該繼續(xù)執(zhí)行此操作，直到只剩下零件為止。如果出現(xiàn)故障，可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)備出現(xiàn)癥狀。為了幫助您定義問題區(qū)域，除了您注意到的觀察結(jié)果之外，您還應(yīng)該具有電路原理圖。從整個(gè)電路作為問題區(qū)域開始。
功能齊全的PCB原型測(cè)試了電子設(shè)計(jì)在現(xiàn)場(chǎng)的性能。它確認(rèn)以下所有變量：關(guān)于原型的警告一些工程師和購(gòu)買者可能認(rèn)為跳過原型制作過程更容易，更快捷。如果一切都按照您的計(jì)劃進(jìn)行，那可能是正確的……但是，這真的發(fā)生了嗎原型服務(wù)為您提供了一種的方式：測(cè)試假設(shè)確定潛在故障的領(lǐng)域快速消除低效的設(shè)計(jì)方法對(duì)于設(shè)計(jì)與現(xiàn)實(shí)之間的緊密聯(lián)系，請(qǐng)尋找一家提供PCB原型設(shè)計(jì)服務(wù)的電子合同制造商，以作為多合一制造經(jīng)驗(yàn)的一部分。這樣，您的合作伙伴將好地了解如何報(bào)價(jià)您，回答您的設(shè)計(jì)問題，等等。為了進(jìn)一步提高成功原型的幾率，請(qǐng)?zhí)崆疤峁┧斜匾奈臋n和指導(dǎo)。有關(guān)該過程的信息可在此處獲得。另外，請(qǐng)確保明確定義任何RoHS合規(guī)性或其他法規(guī)要求。
全自動(dòng)滴定儀指示燈不亮(維修)電話下一步涉及風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估，以對(duì)風(fēng)險(xiǎn)優(yōu)先級(jí)進(jìn)行排序，其中包括對(duì)檢測(cè)，嚴(yán)重性和故障發(fā)生的估計(jì)。然后可以給出（可靠性）壽命評(píng)估的結(jié)果。根據(jù)此信息，選擇與關(guān)鍵故障機(jī)制相關(guān)的監(jiān)控參數(shù)，并且可以使用現(xiàn)有的傳感器數(shù)據(jù)，總線監(jiān)控器數(shù)據(jù)和內(nèi)置測(cè)試結(jié)果來識(shí)別運(yùn)行狀況（例如，異常情況）和參數(shù)。故障的物理模型（PoF），前體的數(shù)據(jù)趨勢(shì)以及融合方法（結(jié)合了數(shù)據(jù)趨勢(shì)和PoF方法）可用于預(yù)測(cè)可靠性。2009_May_A1_Figure01圖1.PHM方法論。當(dāng)前，PHM在許多不同的級(jí)別上實(shí)現(xiàn)，包括組件級(jí)別，級(jí)別和系統(tǒng)級(jí)別。目前，有許多組織在從和航天應(yīng)用到計(jì)算機(jī)和汽車應(yīng)用乃至家庭應(yīng)用的廣泛應(yīng)用中實(shí)施PHM。還有更多組織希望利用PHM的發(fā)展。 kjbaeedfwerfws
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下表5.20中基于模型的測(cè)試結(jié)果與彼此一致，不同之處在于較高模式下的透射率值不匹配，損壞的SM(以紅色顯示)和未損壞的表面貼裝電容器的總累積損壞數(shù)在附錄中給出-一世，表5.通過透射率測(cè)試獲得的諧振頻率和透射率的比較陶瓷表面貼裝電容器的數(shù)值分析模式#固有頻率[Hz]傳輸率測(cè)試模擬陶瓷SM電容器壽命測(cè)試。 這推動(dòng)了印刷電路基板向當(dāng)今使用的多層印刷儀器維修的演進(jìn)，減小的導(dǎo)體間距，小直徑的通孔以及多層上的鍍通孔(PTH)可能導(dǎo)致PCB變得更容易形成導(dǎo)電絲(CFF)，CFF是一種電化學(xué)過程，涉及在施加電場(chǎng)的影響下。
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1、顯示屏無法正常顯示
當(dāng)硬度計(jì)顯示屏無法正確顯示信息時(shí)，先檢查電源是否正確連接。如果電源連接正常但顯示屏仍然不活動(dòng)，則可能表示屏幕出現(xiàn)故障。這種情況，建議將硬度計(jì)送回廠家維修或更換屏幕。
2、讀數(shù)不穩(wěn)定或顯著偏差
如果硬度計(jì)在測(cè)試過程中顯示讀數(shù)不穩(wěn)定或出現(xiàn)明顯偏差，可能的原因包括：
缺乏校準(zhǔn)：硬度計(jì)在使用前需要校準(zhǔn)，以確保準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。長(zhǎng)期缺乏校準(zhǔn)或校準(zhǔn)不當(dāng)可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。解決方案是定期校準(zhǔn)并遵循硬度計(jì)手冊(cè)中的說明。
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樣品制備不當(dāng)：在硬度測(cè)試之前，必須對(duì)樣品進(jìn)行的制備。樣品的表面不規(guī)則性、雜質(zhì)或涂層可能會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。解決方案是在測(cè)試前清潔和拋光樣品，以確保表面光滑。
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3、壓頭磨損或損壞
硬度計(jì)的壓頭直接接觸測(cè)試樣品，長(zhǎng)時(shí)間使用后可能會(huì)出現(xiàn)磨損或損壞。當(dāng)壓頭出現(xiàn)磨損或損壞跡象時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試錯(cuò)誤。解決辦法是定期檢查壓頭的狀況，如果發(fā)現(xiàn)明顯磨損或損壞，應(yīng)及時(shí)更換。
4、讀數(shù)異常大或小
如果硬度計(jì)讀數(shù)明顯偏離標(biāo)準(zhǔn)值，可能的原因包括：
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5、無法執(zhí)行自動(dòng)轉(zhuǎn)換
一些先進(jìn)的硬度計(jì)具有自動(dòng)轉(zhuǎn)換功能，但有時(shí)可能無法運(yùn)行。解決方法是檢查硬度計(jì)設(shè)置，確保正確選擇硬度標(biāo)準(zhǔn)和換算單位
AC裝置的進(jìn)氣口和過濾器上都有過濾器，隨著時(shí)間的流逝，它們會(huì)被堵塞而被污染，切割或加工過程中產(chǎn)生的污染物(例如切削液和液壓液)會(huì)傳播到空氣中，并堵塞AC單元上的過濾器，然后，AC單元開始過度工作，并且在卡住或發(fā)生故障后不久就開始工作。 引線之間枝晶生長(zhǎng)的SEM像引線之間基板上EDS映射分析的結(jié)果54顯示了遷移路徑的前端(靠陽(yáng))，一些金屬顆粒分散在基板上，并與許多顆粒污染物混合，而不是形成連續(xù)的遷移路徑，遷移路徑前端(靠陽(yáng))的SEM像122在此區(qū)域執(zhí)行了高倍SEM成像和EDS元素分析。 根[40]研究了特定類型電容器的振動(dòng)疲勞壽命，例如軸向鉛鉭和鋁電容器，CirVibe軟件用于有限元建模，進(jìn)行模態(tài)和透射率測(cè)試，并將這些測(cè)試的輸出用于疲勞分析，本研究的主要考慮因素是估計(jì)疲勞壽命，因此進(jìn)行了加速壽命測(cè)試。
下面給出了在不同領(lǐng)域中實(shí)施PHM的示例，并且可以在《電子學(xué)的預(yù)測(cè)和健康管理》[6]一書中找到參考。Tuchband等。（2007）[7]提出了基于其生命周期負(fù)荷的線可更換單元（LRU）的預(yù)測(cè)方法。該研究是美國(guó)部長(zhǎng)辦公室資助的一項(xiàng)工作的一部分，該工作旨在為美國(guó)軍方開發(fā)交互式供應(yīng)鏈系統(tǒng)。目的是通過Web門戶集成預(yù)測(cè)，無線通信和數(shù)據(jù)庫(kù)，以實(shí)現(xiàn)具有成本效益的電子維護(hù)和更換。這項(xiàng)研究表明，基于預(yù)測(cè)的維護(hù)計(jì)劃可以在電子系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)。該方法涉及集成可更換單元上的嵌入式傳感器，用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)臒o線通信，數(shù)據(jù)簡(jiǎn)化工具，基于PoF的損害估計(jì)算法以及將該信息上載到Internet的方法。航天Shetty等。（2002年）[8]應(yīng)用PHM方法對(duì)航天飛機(jī)遠(yuǎn)程操縱器系統(tǒng)的機(jī)械臂內(nèi)部的末端執(zhí)行器電子單元（EEEU）進(jìn)行了預(yù)后剩余壽命評(píng)估。
我們會(huì)建議TCi用于任何專注于地質(zhì)和/或原位應(yīng)用的研究或篩選，我們將繼續(xù)在新的勘探任務(wù)中使用它，"印刷儀器維修或PCB是用于放置不同元件的板或板，這些元件符合包含它們之間的電氣互連的電路，簡(jiǎn)單的印刷儀器維修是僅在其表面之一上包含銅線或互連的板。 這是PCB上大的組件(表18)，控制加速度計(jì)附在夾具上，正弦掃描測(cè)試在5-2000Hz之間進(jìn)行，在圖45中給出了獲得的透射率圖，0線性Hz圖45.大組件的透射率(實(shí)驗(yàn)5)從組件的透射率圖在感興趣的頻率范圍內(nèi)觀察到四個(gè)峰值。 分析模型的固有頻率結(jié)果與有限元振動(dòng)分析結(jié)果非常吻合，通過使用解析模型直到共振之后的頻率，可以非常準(zhǔn)確地獲得對(duì)隨機(jī)振動(dòng)輸入的響應(yīng)，從這些結(jié)果可以得出結(jié)論，該分析模型可以成功地用于PCB的初步振動(dòng)分析，在初步設(shè)計(jì)期間。 將發(fā)生故障的電容器與硅樹脂粘合到印刷儀器維修上，表5.15列出了用硅樹脂增強(qiáng)的鋁電解電容器填充的PCB的SST的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試結(jié)果522.8108重新排列了這些故障時(shí)間，以表示如果從第1步開始啟動(dòng)SST將會(huì)發(fā)生的故障時(shí)間。 這是因?yàn)榻M件可能會(huì)根據(jù)其位置而經(jīng)歷數(shù)量級(jí)的壽命變化，因此，將計(jì)算出的疲勞損傷與確定的壽命限(通過SST獲得)進(jìn)行比較非常重要，以便確定在必要時(shí)哪些組件必須移到損壞較小的位置，此外，組件能力的數(shù)值可用于整個(gè)設(shè)計(jì)配置。
尋找機(jī)械損壞，過熱，異常聲音和氣味等的跡象。測(cè)試設(shè)備的運(yùn)行情況，包括其所有功能。記下任何無法正常運(yùn)行的功能。確保非常仔細(xì)地觀察這些操作。這可以為您提供有關(guān)設(shè)備所有部分的許多有價(jià)值的信息。步驟2–定義問題區(qū)域在此階段，您可以對(duì)觀察結(jié)果應(yīng)用邏輯和推理，以確定故障設(shè)備的問題區(qū)域。通常，當(dāng)設(shè)備發(fā)生故障時(shí)，設(shè)備的某些部分會(huì)正常工作，而其他部分則無法正常工作。關(guān)鍵是要使用您的觀察（從步驟1開始）來排除設(shè)備或電路中運(yùn)行正常且不會(huì)導(dǎo)致故障原因的部分。您應(yīng)該繼續(xù)執(zhí)行此操作，直到只剩下零件為止。如果出現(xiàn)故障，可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)備出現(xiàn)癥狀。為了幫助您定義問題區(qū)域，除了您注意到的觀察結(jié)果之外，您還應(yīng)該具有電路原理圖。從整個(gè)電路作為問題區(qū)域開始。
功能齊全的PCB原型測(cè)試了電子設(shè)計(jì)在現(xiàn)場(chǎng)的性能。它確認(rèn)以下所有變量：關(guān)于原型的警告一些工程師和購(gòu)買者可能認(rèn)為跳過原型制作過程更容易，更快捷。如果一切都按照您的計(jì)劃進(jìn)行，那可能是正確的……但是，這真的發(fā)生了嗎原型服務(wù)為您提供了一種的方式：測(cè)試假設(shè)確定潛在故障的領(lǐng)域快速消除低效的設(shè)計(jì)方法對(duì)于設(shè)計(jì)與現(xiàn)實(shí)之間的緊密聯(lián)系，請(qǐng)尋找一家提供PCB原型設(shè)計(jì)服務(wù)的電子合同制造商，以作為多合一制造經(jīng)驗(yàn)的一部分。這樣，您的合作伙伴將好地了解如何報(bào)價(jià)您，回答您的設(shè)計(jì)問題，等等。為了進(jìn)一步提高成功原型的幾率，請(qǐng)?zhí)崆疤峁┧斜匾奈臋n和指導(dǎo)。有關(guān)該過程的信息可在此處獲得。另外，請(qǐng)確保明確定義任何RoHS合規(guī)性或其他法規(guī)要求。
全自動(dòng)滴定儀指示燈不亮(維修)電話下一步涉及風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估，以對(duì)風(fēng)險(xiǎn)優(yōu)先級(jí)進(jìn)行排序，其中包括對(duì)檢測(cè)，嚴(yán)重性和故障發(fā)生的估計(jì)。然后可以給出（可靠性）壽命評(píng)估的結(jié)果。根據(jù)此信息，選擇與關(guān)鍵故障機(jī)制相關(guān)的監(jiān)控參數(shù)，并且可以使用現(xiàn)有的傳感器數(shù)據(jù)，總線監(jiān)控器數(shù)據(jù)和內(nèi)置測(cè)試結(jié)果來識(shí)別運(yùn)行狀況（例如，異常情況）和參數(shù)。故障的物理模型（PoF），前體的數(shù)據(jù)趨勢(shì)以及融合方法（結(jié)合了數(shù)據(jù)趨勢(shì)和PoF方法）可用于預(yù)測(cè)可靠性。2009_May_A1_Figure01圖1.PHM方法論。當(dāng)前，PHM在許多不同的級(jí)別上實(shí)現(xiàn)，包括組件級(jí)別，級(jí)別和系統(tǒng)級(jí)別。目前，有許多組織在從和航天應(yīng)用到計(jì)算機(jī)和汽車應(yīng)用乃至家庭應(yīng)用的廣泛應(yīng)用中實(shí)施PHM。還有更多組織希望利用PHM的發(fā)展。 kjbaeedfwerfws
