這些可能包括以下一些:電容溫度頻率晶體管測(cè)試–HFE等連續(xù)性(蜂鳴器)自動(dòng)量程選擇-為測(cè)試的數(shù)量選擇正確的范圍，以便顯示高有效數(shù)字，自動(dòng)性直流讀數(shù)，顯示施加的電壓是正還是負(fù)采樣并保持-在將儀器從被測(cè)電路中拔出后。
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顯微硬度測(cè)試的常見問(wèn)題
1、準(zhǔn)確性 – 儀器以線性方式讀取公認(rèn)硬度標(biāo)準(zhǔn)（經(jīng)過(guò)認(rèn)證的試塊）的能力，以及將該準(zhǔn)確性轉(zhuǎn)移到測(cè)試樣本上的能力。
2、重復(fù)性- 結(jié)果是否可以使用公認(rèn)的硬度標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)。
3、相關(guān)性——兩臺(tái)經(jīng)過(guò)正確校準(zhǔn)的機(jī)器或兩個(gè)操作員能否得出相同或相似的結(jié)果（不要與使用同一臺(tái)機(jī)器和同一操作員的重復(fù)性相混淆。

如果主電源的直流電壓異常高，則會(huì)發(fā)生過(guò)壓警報(bào)(HV電:430VDC)，再生放電電阻斷開時(shí)發(fā)生警報(bào)，對(duì)于200VAC輸入，主電路電壓為283VDC(200x1.414)，在主電路電壓加上60V的電壓下開始放電操作。 則這是正確的，問(wèn)題在于，失效的周期分布很少真正呈鐘形，試樣中經(jīng)常有兩個(gè)或多個(gè)失效模式處于活動(dòng)狀態(tài)，并且分布曲線變得失真，小值是早的故障，大值是贈(zèng)券達(dá)到的大循環(huán)數(shù)，范圍是小值和大值之間的差，變異系數(shù)是均值除以以百分比表示的標(biāo)準(zhǔn)偏差。

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1、機(jī)器。
維氏顯微硬度測(cè)試儀通過(guò)使用自重產(chǎn)生力來(lái)進(jìn)行測(cè)量。這些輕負(fù)載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差，但這可能會(huì)導(dǎo)致重復(fù)性問(wèn)題。在大多數(shù)情況下，顯微硬度計(jì)使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測(cè)試件，“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測(cè)量裝置設(shè)定?？偠灾?，一件樂(lè)器給人留下印象大約需要 30 秒。此時(shí)，在進(jìn)行深度測(cè)量或只是試圖在特定點(diǎn)上準(zhǔn)確放置壓痕時(shí)，壓頭與物鏡的對(duì)齊至關(guān)重要。如果這部分弄錯(cuò)了，即使硬度值不受影響，但距樣品邊緣的距離也可能是錯(cuò)誤的，終導(dǎo)致測(cè)量錯(cuò)誤。
PADPCB設(shè)計(jì)|手推車捕獲原理圖后，您可以測(cè)試整個(gè)電路的設(shè)計(jì)是否運(yùn)作良好，在[庫(kù)"標(biāo)簽下，單擊[通用"，然后選擇[庫(kù)同步工具"，您可以看到電路的哪一部分有問(wèn)題，帶有黃色警告的部分表示其問(wèn)題，2.組件管理借助PADS組件管理。 出于統(tǒng)計(jì)目的，如果有足夠的可用空間/允許的空間，則每個(gè)測(cè)試電路應(yīng)包含大約300個(gè)(或更多)微孔，僅Microvia優(yōu)惠券Photo25優(yōu)惠券中設(shè)計(jì)了其他功能，這些功能可提供完成產(chǎn)品的測(cè)量以及確定和確認(rèn)PWB制造商的功能和一致性所需的關(guān)鍵信息。

2、運(yùn)營(yíng)商。
顯微硬度測(cè)試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵因素。模糊圖像和結(jié)果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下，操作員有時(shí)會(huì)急于進(jìn)行測(cè)試并取出零件。必須小心確保正確的結(jié)果。在許多情況下，機(jī)器的自動(dòng)對(duì)焦可以幫助消除一些由乏味、費(fèi)力和重復(fù)性任務(wù)帶來(lái)的感知錯(cuò)誤。
手動(dòng)記錄和轉(zhuǎn)換結(jié)果可能是操作員出錯(cuò)的另一個(gè)原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。  自動(dòng)給出轉(zhuǎn)換和結(jié)果的數(shù)字顯微硬度測(cè)試儀可以幫助消除這個(gè)問(wèn)題。此外，相機(jī)幾乎可以連接到任何顯微硬度測(cè)試儀上，以幫助找到印模末端。
則諸如電源接地短路測(cè)試中的短路之類的問(wèn)題很難追溯到其根源，設(shè)計(jì)PCB的過(guò)程涉及很多步驟，PCB設(shè)計(jì)專家可以幫助您設(shè)計(jì)出滿足您的技術(shù)需求和要求的高質(zhì)量?jī)x器維修，專家可以對(duì)您的電子設(shè)備的要求進(jìn)行的分析，以確保您的產(chǎn)品包含正確的支持以幫助其在市場(chǎng)上發(fā)揮良好的性能。 圖4給出了卡鎖固定器的示例，圖4.卡鎖固定器[7]5還有很多產(chǎn)品可以提高用螺釘安裝的PCB的剛度，這些額外的機(jī)械零件旨在吸收施加到PCB連接點(diǎn)的機(jī)械負(fù)荷，圖5-8給出了PCB安裝元件的一些示例，圖5.PCB安裝元件[8]圖6.PCB安裝元件[9]圖7.PCB安裝元件[10]6圖8.PCB安裝元件[1。

3、環(huán)境問(wèn)題。
由于顯微硬度測(cè)試中使用輕負(fù)載，振動(dòng)可能會(huì)影響負(fù)載精度。壓頭或試樣的振動(dòng)會(huì)導(dǎo)致壓頭更深地進(jìn)入零件，從而產(chǎn)生更柔軟的結(jié)果。顯微硬度計(jì)應(yīng)始終放置在專用、水平、堅(jiān)固、獨(dú)立的桌子上。確保您的桌子沒有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計(jì)硬度計(jì)機(jī)器具有高倍光學(xué)鏡片。如果在測(cè)試儀附近進(jìn)行切割、研磨或拋光，鏡頭上可能會(huì)沾上污垢，從而導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。
請(qǐng)參考圖12，以了解微孔和PTH結(jié)構(gòu)之間的電阻分布如何變化，了解這些現(xiàn)實(shí)是成功設(shè)計(jì)試樣的關(guān)鍵，圖12驗(yàn)收和拒絕標(biāo)準(zhǔn)只包含一個(gè)用于可靠性測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)，任何超過(guò)10%電阻增加的被測(cè)產(chǎn)品均視為不合格，考慮到/通孔裂紋是導(dǎo)致試件失效的原因。 11]，在這項(xiàng)工作和其他工作中所使用的MFG環(huán)境使得銀的腐蝕速率約為銅的腐蝕速率的1/25(圖5和6)，在已知的與腐蝕相關(guān)的硬件故障的數(shù)據(jù)中心中，銀腐蝕的速度通常比銅腐蝕的速度快約四倍(表2)，換句話說(shuō)。 您將為每個(gè)伺服組件(例如伺服電機(jī)，伺服放大器，伺服驅(qū)動(dòng)器，電源和監(jiān)視器)配備一個(gè)備用自動(dòng)化設(shè)備組件,因?yàn)?，?dāng)您的伺服系統(tǒng)組件發(fā)生故障時(shí)，您希望盡可能減少停機(jī)時(shí)間，機(jī)械故障的時(shí)間越長(zhǎng)，您將損失的時(shí)間和金錢就越多。

盡管我已經(jīng)以商業(yè)為生，但我不是您所說(shuō)的專職電子修理工。我可以只是幫助一個(gè)朋友在家里，但通常這是我主要工作的，如匯編程序/后期流程修飾，我也很擅長(zhǎng)。因此，我大部分的維修經(jīng)驗(yàn)是使用新設(shè)備，這些設(shè)備在開機(jī)時(shí)無(wú)法正常工作。（是的，當(dāng)那個(gè)波峰焊機(jī)會(huì)焊接嗎：）運(yùn)行那東西是一種藝術(shù)形式，我很樂(lè)意避免）在這種情況下，自然地，我非常相信“通過(guò)NGP測(cè)試進(jìn)行交換”，因?yàn)樵诮M裝車間中通常會(huì)有很多，但這并不總是容易做到的。尤其是在家里，如果有陳舊的設(shè)備，或者如此小巧或便宜的產(chǎn)品而不是真空管，IC或模塊，則應(yīng)放在插座中。我有趣的重?fù)艚?jīng)驗(yàn)就是這些-一種商業(yè)用途，一種在家用途。商業(yè)：它涉及一個(gè)過(guò)時(shí)且體積較小的傳感器板，用于地下水監(jiān)測(cè)行業(yè)。

風(fēng)扇或交流單元故障，可能是由于長(zhǎng)時(shí)間的污染驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部的主儀器維修被雜質(zhì)污染進(jìn)入設(shè)備的氣流受阻或受到限制，解決方法:通過(guò)維修交流系統(tǒng)或風(fēng)扇使機(jī)柜冷卻,清潔系統(tǒng)中的污染物或碎屑，但是，如果由于在驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部涂覆多個(gè)組件而導(dǎo)致過(guò)熱而導(dǎo)致?lián)p壞。 無(wú)鉛焊接條件，板上有23個(gè)區(qū)域，具有各種飾面，走線和具有不同間距的通孔，儀器維修的設(shè)計(jì)使其便于目視檢查和蠕變腐蝕的電氣測(cè)試，圖9所示的測(cè)試PCB上的區(qū)域如下:-頂部的區(qū)域1和2，底部的區(qū)域16和17是間距為1.5mm的鍍通孔。 就像其他任何東西一樣，有一句老話:[您所付的錢就可以得到，"在許多情況下，變頻驅(qū)動(dòng)器(VFD)的價(jià)格有所下降，但是，這又取決于應(yīng)用程序，例如，使用7.5HP理論，我不會(huì)使用沒有選擇在擠出機(jī)的閉環(huán)傳感器矢量模式下運(yùn)行的驅(qū)動(dòng)器。 這些可能包括以下一些:電容溫度頻率晶體管測(cè)試–HFE等連續(xù)性(蜂鳴器)自動(dòng)量程選擇-為測(cè)試的數(shù)量選擇正確的范圍，以便顯示高有效數(shù)字，自動(dòng)性直流讀數(shù)，顯示施加的電壓是正還是負(fù)采樣并保持-在將儀器從被測(cè)電路中拔出后。

可能會(huì)進(jìn)行校正。轉(zhuǎn)盤上的速度控制便宜的轉(zhuǎn)盤/轉(zhuǎn)換器將使用同步電動(dòng)機(jī)，甚至僅使用感應(yīng)電動(dòng)機(jī)。電機(jī)的維護(hù)是清潔和潤(rùn)滑。傳動(dòng)皮帶損壞可能會(huì)導(dǎo)致速度降低或不穩(wěn)定，或者無(wú)法啟動(dòng)。伺服控制的轉(zhuǎn)盤利用反饋技術(shù)將碟片速度鎖定在穩(wěn)定的參考值上-電源線（50/60Hz）或更常見的是晶體振蕩器。這是一個(gè)例子：我修理過(guò)的一臺(tái)索尼轉(zhuǎn)盤在盤片的內(nèi)部使用了磁條圖案，該磁條圖案被一個(gè)磁性拾音器感應(yīng)到。產(chǎn)生的信號(hào)被鎖相到穩(wěn)定的參考，并用于控制無(wú)刷直流直接驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)。如果（1）磁性圖案損壞，（2）拾音器位置離碟片表面太遠(yuǎn)，（3）電動(dòng)機(jī)中的霍爾效應(yīng)傳感器損壞，或（4）電動(dòng)機(jī)的速度會(huì)變得不穩(wěn)定。控制電子設(shè)備變壞。在一種情況下，事實(shí)證明其中一個(gè)霍爾效應(yīng)傳感器在電動(dòng)機(jī)中出現(xiàn)故障。

納米在線粒度儀故障維修上門速度快使用電/熱模擬的簡(jiǎn)單電阻網(wǎng)絡(luò)解決方案，以及數(shù)值（有限差分/有限元）方法。在第二層（卡/板層），傳熱機(jī)制主要是通過(guò)對(duì)流實(shí)現(xiàn)的。散熱方面的考慮因素包括組件（封裝）的幾何形狀和在板上的位置，流動(dòng)類型（層流或湍流）和流速，流動(dòng)分布以及封裝的流動(dòng)阻抗?？刂品匠蹋∟avierStokes）是非線性的，簡(jiǎn)單的解決方案是不可接受的。必須使用CFD（計(jì)算流體動(dòng)力學(xué)）或經(jīng)驗(yàn)相關(guān)性。系統(tǒng)級(jí)別的考慮因素是周圍環(huán)境，即溫度，高度和濕度；風(fēng)機(jī)/風(fēng)扇/泵的選擇考慮因素，例如容量，物理尺寸，噪音和機(jī)器位置；以及人為因素，例如噪音，外殼溫度和烤架位置。傳熱分析通常限于此級(jí)別的簡(jiǎn)單能量衡。可以看出，在不同級(jí)別上的考慮是不同的，并且各不相同。  kjbaeedfwerfws