亞麻或纖維的百分比以及粉塵粒度分布確定，吸濕性材料是粉塵污染中的關(guān)鍵成分之一，當(dāng)達到CRH時，吸濕性材料可以從大氣中吸收和吸附大量水分子，從而增加粉塵中的水分含量，由于大多數(shù)纖維中都存在纖維素，灰塵中的纖維通過將水分子保持在纖維結(jié)構(gòu)的空間中或通過化學(xué)作用吸收水。
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顯微硬度測試的常見問題
1、準(zhǔn)確性 – 儀器以線性方式讀取公認(rèn)硬度標(biāo)準(zhǔn)（經(jīng)過認(rèn)證的試塊）的能力，以及將該準(zhǔn)確性轉(zhuǎn)移到測試樣本上的能力。
2、重復(fù)性- 結(jié)果是否可以使用公認(rèn)的硬度標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)。
3、相關(guān)性——兩臺經(jīng)過正確校準(zhǔn)的機器或兩個操作員能否得出相同或相似的結(jié)果（不要與使用同一臺機器和同一操作員的重復(fù)性相混淆。

由于發(fā)生故障的電路的電阻僅增加了10%，可以施加低水的直流電流，從而允許發(fā)生故障的互連局部發(fā)熱，與其他(堅固)微孔相比，受損的微孔具有更高的電阻，并且它將成為試樣中熱的結(jié)構(gòu)，并可以使用熱像儀輕松找到，熱像儀可以直接顯示弱的微孔的確切位置(參見照片26和27)。 由于介電特性與溫度的關(guān)系，Zo也可能與頻率和溫度有關(guān)，請參見圖5.14，在生產(chǎn)環(huán)境中，由于厚度的有限標(biāo)準(zhǔn)值以及線寬，厚度，介電常數(shù)等的公差，因此必須考慮Zo的公差，圖6.用于獲得受控特性阻抗的幾何形狀。

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1、機器。
維氏顯微硬度測試儀通過使用自重產(chǎn)生力來進行測量。這些輕負(fù)載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差，但這可能會導(dǎo)致重復(fù)性問題。在大多數(shù)情況下，顯微硬度計使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測試件，“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測量裝置設(shè)定?？偠灾?，一件樂器給人留下印象大約需要 30 秒。此時，在進行深度測量或只是試圖在特定點上準(zhǔn)確放置壓痕時，壓頭與物鏡的對齊至關(guān)重要。如果這部分弄錯了，即使硬度值不受影響，但距樣品邊緣的距離也可能是錯誤的，終導(dǎo)致測量錯誤。
在進入下一生產(chǎn)階段之前，可以使用多次運行來測試設(shè)計變化或完善單個功能，在原型制作過程中，許多工程師專注于設(shè)計實驗，這是更具成本效益的測試變量在這一點上比生產(chǎn)1萬層PCB板，一個可怕的設(shè)計，這是獲得原型PCB組件的四個基本選項。 可以將其視為一個的比較，但與Duroid的工作有點像在黑冰上行駛，在開始使用新材料時，您嘗試進行盡可能多的研究并獲得盡可能多的建議，您可以下載制造商文檔，并與過去使用該材料的制造商代表，鉆頭/銑頭制造商以及其他PCB制造商進行交談。

2、運營商。
顯微硬度測試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵因素。模糊圖像和結(jié)果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下，操作員有時會急于進行測試并取出零件。必須小心確保正確的結(jié)果。在許多情況下，機器的自動對焦可以幫助消除一些由乏味、費力和重復(fù)性任務(wù)帶來的感知錯誤。
手動記錄和轉(zhuǎn)換結(jié)果可能是操作員出錯的另一個原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。  自動給出轉(zhuǎn)換和結(jié)果的數(shù)字顯微硬度測試儀可以幫助消除這個問題。此外，相機幾乎可以連接到任何顯微硬度測試儀上，以幫助找到印模末端。
溫度升高曲線為了評估由于灰塵沉積密度引起的阻抗差異，選擇了四種不同級別的灰塵沉積密度，在不同粉塵的比較測試中，僅使用一種沉積密度，每組測試均使用沒有灰塵沉積的干凈板作為對照樣品，每個條件的樣本量為3個板。 證書，ISO，UL或RoHS有助于證明PCB制造商的能力并規(guī)范整個制造過程，其次，用于消費電子產(chǎn)品的板往往要求尺寸小，從而導(dǎo)致對密度的更高要求，基于現(xiàn)代電子產(chǎn)品的發(fā)展趨勢，電子產(chǎn)品的尺寸和體積越來越小是很明顯的趨勢。

3、環(huán)境問題。
由于顯微硬度測試中使用輕負(fù)載，振動可能會影響負(fù)載精度。壓頭或試樣的振動會導(dǎo)致壓頭更深地進入零件，從而產(chǎn)生更柔軟的結(jié)果。顯微硬度計應(yīng)始終放置在專用、水平、堅固、獨立的桌子上。確保您的桌子沒有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計硬度計機器具有高倍光學(xué)鏡片。如果在測試儀附近進行切割、研磨或拋光，鏡頭上可能會沾上污垢，從而導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。
設(shè)計信息，體積，終應(yīng)用數(shù)據(jù)，樣品板和終客戶名稱是如果違反保密規(guī)定可能會造成傷害的示例，PCB供應(yīng)商必須盡大努力安全地保存所有信息，以免機密數(shù)據(jù)被泄露，接受諸如報價請求或采購訂單之類的信息即表示PCB供應(yīng)商將對此類披露的信息保密。 并具有較小的機械應(yīng)力和更高的可靠性，但需要更的元件放置，對于較寬的組件，應(yīng)始終使用狹窄的焊區(qū)，以免焊角過大，圖6.定義SMD電阻器和電容器的焊區(qū)尺寸的參數(shù)，請參見表6.2，6.11LeifHalbo和PerOhlckers:電子元件。 然后從那里開始，如果那不能解決問題，則您的驅(qū)動器需要維修，因為過電壓可能損壞了主板上的其他區(qū)域，欠電壓–(黃色)含義:通常意味著您沒有獲得適當(dāng)?shù)木€路電壓電源，可能的原因:電源總線電壓已降至預(yù)設(shè)的DC值以下:電源接觸器未通電或掉線。

制備在開始對任何設(shè)備進行故障排除之前，您必須熟悉組織的電氣設(shè)備安全規(guī)則和程序。這些規(guī)則和過程控制可用于對電氣設(shè)備進行故障排除的方法（包括鎖定/標(biāo)出過程，測試過程等），在進行故障排除時必須遵循這些規(guī)則和過程。接下來，您需要收集有關(guān)設(shè)備和問題的信息。確保您了解設(shè)備的設(shè)計操作方式。當(dāng)您知道錯誤的操作方式時，分析錯誤的操作要容易得多。操作或設(shè)備手冊和圖紙是很好的信息來源，對于獲得有用的信息很有幫助。如果有設(shè)備歷史記錄，則應(yīng)檢查它們以查看是否有任何重復(fù)出現(xiàn)的問題。您還應(yīng)該手頭上有任何描述問題的文檔（例如，工作單，故障報告，甚至是與客戶討論中得到的筆記）。步驟1–觀察大多數(shù)故障提供了有關(guān)其原因的明顯線索。通過仔細(xì)觀察和一點點推理。

圖5.自動損壞檢測系統(tǒng)組件(HP33120A任意波形發(fā)生器根據(jù)故障時間得出了PCB2和PCB3上電容器的類似疲勞行為，另外，PCB1上電容器的疲勞壽命總是小于PCB2和PCB3上的電容器的疲勞壽命，在電容器的疲勞壽命的計算中。 這推動了印刷電路基板向當(dāng)今使用的多層印刷儀器維修的演進，減小的導(dǎo)體間距，小直徑的通孔以及多層上的鍍通孔(PTH)可能導(dǎo)致PCB變得更容易形成導(dǎo)電絲(CFF)，CFF是一種電化學(xué)過程，涉及在施加電場的影響下。 23顯示了測量電路的示意，通過連續(xù)測量的固定電阻器的電壓值和電源電壓，計算出梳齒結(jié)構(gòu)上的灰塵污染區(qū)域的電阻，72阻抗測試點:斷開開關(guān)時測試阻抗保護走線:連接到阻抗分析儀接地引腳接通開關(guān)時，在測試期間登錄數(shù)據(jù)電阻兩端的電壓。 9.基準(zhǔn)尺寸應(yīng)為0.03至0.05英寸，間隙區(qū)域為0.30，基準(zhǔn)的位置在木板圖像上，將基準(zhǔn)放置在面板框架上是可以接受的，在呈現(xiàn)給機器對準(zhǔn)攝像機的面板化框架內(nèi)，至少需要2個對角相對的基準(zhǔn)，三個基準(zhǔn)是優(yōu)選的。

結(jié)果是由于冷卻不足而導(dǎo)致所提供設(shè)備的高溫警報。VFD旨在克服系統(tǒng)中一定量的電壓中斷。但是，如果超出了此類故障的VFD規(guī)格，則VFD將關(guān)閉。在這種情況下，先認(rèn)為電子驅(qū)動器有故障。但是，對VFD操作參數(shù)的研究以及在系統(tǒng)電源傳輸期間記錄電壓和電流值揭示了問題的真正原因：轉(zhuǎn)換開關(guān)時間通常太長，無法支持VFD操作。在另一種情況下，當(dāng)從備用電源供電時，VAV終端中的VFD將脫機跳閘。發(fā)現(xiàn)問題是備用發(fā)電機無法提供足夠的電能質(zhì)量來操作VFD。備用電源上的電壓波動會導(dǎo)致VFD跳閘。解決方案是在使用備用電源時將VFD置于旁路運行狀態(tài)，從而繞過電子變速控制。電能質(zhì)量問題的根源電子設(shè)備通過吸收交流電并將其轉(zhuǎn)換為直流電以供電子組件使用來進行操作。

上門維修 梅特勒電位滴定儀T7故障維修維修速度快適用于水性樣品溶液。它能夠測量百萬分之幾（ppb）和低百萬分之幾（PPM）范圍內(nèi)的主要陰離子（例如氯離子和溴離子）以及主要陽離子（例如鈉，銨和鉀）的濃度。弱有機酸（WOA）的濃度也可以通過IC測量。IC使用離子交換柱，其中分析物與固定的填充樹脂相互作用。該樹脂是一種帶有電荷的化學(xué)基團或側(cè)鏈的聚合物，該化學(xué)基團或側(cè)鏈共價鍵合到其骨架上。在陰離子柱中，分析物中的陰離子被吸引到樹脂上帶正電荷的基團上。將樣品溶液注入色譜柱中，并在洗脫液的壓力下使其通過。洗脫液是一種將分析物推過色譜柱的液體，其中包含與分析物競爭的離子，有助于分離各個離子。分離能力取決于許多因素，包括使用的洗脫液，電離衡（pKa），每個離子的物理尺寸以及樹脂類型和樹脂中的帶電基團密度。  kjbaeedfwerfws