產(chǎn)品詳情
功能測(cè)試功能監(jiān)視測(cè)試通常在工廠技術(shù)規(guī)范中被為可操作性檢查和校準(zhǔn)，并且被視為老化管理技術(shù)(IAEA2000)，此類測(cè)試包括電路檢查，結(jié)果評(píng)估用于驗(yàn)證整個(gè)電路是否能夠正常運(yùn)行，例如，一些測(cè)試測(cè)量信號(hào)到設(shè)備驅(qū)動(dòng)的時(shí)間。
海鑫瑞粒徑儀故障維修效率高
我公司專業(yè)維修各種儀器，維修經(jīng)驗(yàn)二十年，維修的主要品牌有：英國(guó)Foundrax、美國(guó)GR、美國(guó)杰瑞、意大利Gibitre、意大利蓋比特、德國(guó)Hildebrand、海德堡、荷蘭Innovatest、德國(guó)KB、美國(guó)LECO力可、力可、日本Matsuzawa松澤、雷克斯、日本Mitutoyo三豐、瑞士PROCEQ博勢(shì)、奧地利Qness、美國(guó)Rex雷克斯、丹麥Struers司特爾、日本shimadzu島津、威爾遜等，儀器出現(xiàn)故障聯(lián)系凌科自動(dòng)化
購買所需的伺服系統(tǒng)組件，然后將損壞的組件發(fā)送到維修區(qū)，一旦我們收到您的物品，您將從收到的寄出的物品中(除非您的物品狀況差)，請(qǐng)?jiān)谖锲烦霈F(xiàn)故障之前再次向您運(yùn)送該物品的公司，檢查維修區(qū)更換過程，(3)以正確的容量運(yùn)行如果超出伺服系統(tǒng)組件的額定輸出容量。 溫度升高曲線為了評(píng)估由于灰塵沉積密度引起的阻抗差異，選擇了四種不同級(jí)別的灰塵沉積密度，在不同粉塵的比較測(cè)試中，僅使用一種沉積密度，每組測(cè)試均使用沒有灰塵沉積的干凈板作為對(duì)照樣品，每個(gè)條件的樣本量為3個(gè)板。
海鑫瑞粒徑儀故障維修效率高
1、顯示屏無法正常顯示
當(dāng)硬度計(jì)顯示屏無法正確顯示信息時(shí)，先檢查電源是否正確連接。如果電源連接正常但顯示屏仍然不活動(dòng)，則可能表示屏幕出現(xiàn)故障。這種情況，建議將硬度計(jì)送回廠家維修或更換屏幕。
2、讀數(shù)不穩(wěn)定或顯著偏差
如果硬度計(jì)在測(cè)試過程中顯示讀數(shù)不穩(wěn)定或出現(xiàn)明顯偏差，可能的原因包括：
缺乏校準(zhǔn)：硬度計(jì)在使用前需要校準(zhǔn)，以確保準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。長(zhǎng)期缺乏校準(zhǔn)或校準(zhǔn)不當(dāng)可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。解決方案是定期校準(zhǔn)并遵循硬度計(jì)手冊(cè)中的說明。
測(cè)試環(huán)境不穩(wěn)定：硬度測(cè)試應(yīng)在穩(wěn)定的環(huán)境下進(jìn)行，避免外界干擾。不良的測(cè)試環(huán)境可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。解決辦法是測(cè)試時(shí)選擇安靜且溫度穩(wěn)定的環(huán)境，避免其他設(shè)備的干擾。
樣品制備不當(dāng)：在硬度測(cè)試之前，必須對(duì)樣品進(jìn)行的制備。樣品的表面不規(guī)則性、雜質(zhì)或涂層可能會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。解決方案是在測(cè)試前清潔和拋光樣品，以確保表面光滑。
圖6.通過實(shí)驗(yàn)?zāi)B(tài)分析獲得的電源PCB的固有頻率(f1=18，2Hz，阻尼比，泛=0.95%)圖6.通過CirVibe仿真獲得的電源PCB的固有頻率(從有限元分析獲得的模態(tài)形狀也與實(shí)驗(yàn)?zāi)B(tài)分析結(jié)果一致。 3)，PCB封裝建立，單擊文件>>新建>>庫>>PCB庫(，pcblib)并保存，PCB的包裝是否完好確定了PCB的可制造性，除了上面提到的陽和陰之間的匹配以及原理圖符號(hào)之外，還應(yīng)該關(guān)注許多細(xì)節(jié)，例如。 [客戶PCB面板"或簡(jiǎn)稱為[PCB面板"是用于組裝的面板，也就是說，在面板上裝有SMD或PTH組件，這就是您作為客戶收到的面板，拼板可以像在PCB板之間留出100mil(0.100[)間距并在四個(gè)邊緣上鋪以500mil(0.50")邊框的矩形板制片一樣簡(jiǎn)單。
3、壓頭磨損或損壞
硬度計(jì)的壓頭直接接觸測(cè)試樣品，長(zhǎng)時(shí)間使用后可能會(huì)出現(xiàn)磨損或損壞。當(dāng)壓頭出現(xiàn)磨損或損壞跡象時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試錯(cuò)誤。解決辦法是定期檢查壓頭的狀況，如果發(fā)現(xiàn)明顯磨損或損壞，應(yīng)及時(shí)更換。
4、讀數(shù)異常大或小
如果硬度計(jì)讀數(shù)明顯偏離標(biāo)準(zhǔn)值，可能的原因包括：
壓力調(diào)整不當(dāng)：硬度計(jì)在測(cè)試時(shí)需要施加一定的壓力，壓力過大或不足都可能導(dǎo)致讀數(shù)異常。解決方法是根據(jù)樣品的硬度特性調(diào)整測(cè)試壓力。
硬度計(jì)的內(nèi)部問題：硬度計(jì)的內(nèi)部組件可能會(huì)出現(xiàn)故障，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。解決辦法是對(duì)硬度計(jì)進(jìn)行定期維護(hù)，并按照制造商的說明進(jìn)行維修或更換部件。
5、無法執(zhí)行自動(dòng)轉(zhuǎn)換
一些先進(jìn)的硬度計(jì)具有自動(dòng)轉(zhuǎn)換功能，但有時(shí)可能無法運(yùn)行。解決方法是檢查硬度計(jì)設(shè)置，確保正確選擇硬度標(biāo)準(zhǔn)和換算單位
電解質(zhì)薄膜中的腐蝕性污染物濃度可能很高，尤其是在交替潤(rùn)濕和干燥的條件下，在薄膜腐蝕條件下，來自大氣的氧氣也很容易提供給電解質(zhì)，大氣腐蝕的機(jī)理如6所示，為簡(jiǎn)單起見，該表面被視為[理論上"的清潔表面，大氣腐蝕的機(jī)理[59]大氣腐蝕的機(jī)理如6所示。 其中一些使用免洗的有機(jī)酸助焊劑，而其他使用免洗的松香助焊劑，則在混合氣體環(huán)境中進(jìn)行了氣體成分調(diào)整，以達(dá)到目標(biāo)的500-600nm/day銅腐蝕速率，銅蠕變腐蝕主要在用免清洗有機(jī)酸焊劑進(jìn)行波峰焊接的ImAg成品板上觀察到。 從而延長(zhǎng)產(chǎn)品的總體使用壽命保留所利，Inc，是的工程仿真軟件提供商之一，其技術(shù)使客戶能夠準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)其產(chǎn)品設(shè)計(jì)將在現(xiàn)實(shí)中蓬勃發(fā)展，該公司擁有一個(gè)集成的多物理場(chǎng)軟件工具的通用臺(tái)，該工具旨在優(yōu)化廣泛行業(yè)的產(chǎn)品開發(fā)流程。
以使其逐步執(zhí)行其程序序列。在這種情況下，工程師通常通過“在線”查詢軟件來確定序列在何處停止，目的是將問題跟蹤到特定的I/O模塊和輸入或輸出點(diǎn)。通過識(shí)別I/O點(diǎn)，工程師可以將問題追溯到根本原因。這可能是PLC配置錯(cuò)誤，斷路器跳閘，接線端子松動(dòng)，24VDC電源故障或接線問題。I/O模塊本身可能需要更換。這依賴于隨時(shí)可用的替代品供應(yīng)，這對(duì)于遺留系統(tǒng)而言變得越來越困難。輸入組的異常行為或故障表明存在內(nèi)部PLC錯(cuò)誤或通用電源問題。如果不是I/O模塊出現(xiàn)故障的原因，并且電源和接線問題已消除，則應(yīng)注意現(xiàn)場(chǎng)設(shè)備-I/O模塊外部的組件。這些可能配置不正確，受到機(jī)械損壞，或者可能由于例如進(jìn)水而導(dǎo)致電氣故障。地面完整性正確接地對(duì)于保護(hù)PLC和維護(hù)人員都很重要。
不比前65個(gè)兩個(gè)透射率值大，這些點(diǎn)的透射率值在表19中給出，表19.自然頻率下頂蓋的透射率-實(shí)驗(yàn)4固有頻率[Hz]透射率6468.077324.012172.2在1580Hz之后，夾具振動(dòng)變得明顯并且不可能評(píng)論在此頻率之后在頂蓋響應(yīng)曲線中觀察到的峰值是由于夾具振動(dòng)還是由于頂蓋動(dòng)力學(xué)而出現(xiàn)。 該信息將使在不遭受電路故障的情況下大化組件的使用壽命成為可能，該報(bào)告提出了許多特定的技術(shù)，用于提高監(jiān)視電路和儀器維修組件中可能導(dǎo)致儀器維修故障的老化引起的變化的能力，一些討論了在電子儀器維修監(jiān)控之外的應(yīng)用中已使用的有前途的技術(shù)。 但是，暴露于高溫會(huì)使它們變脆，因此更容易斷裂，在圖4a中還可以觀察到，這個(gè)暗黑的燒焦區(qū)域從PTH的外壁延伸到銅跡線(左上角)，損壞的路徑和高溫的跡象表明，故障是由于導(dǎo)電絲的形成(CFF)所致，它在PTH和接地層的銅走線之間形成了一條導(dǎo)電路徑。 該標(biāo)準(zhǔn)與灰塵對(duì)電子設(shè)備可靠性的影響有關(guān)，臨界沉積密度與粉塵污染的成分有關(guān)，19的一些研究[78]表明，美國(guó)電信設(shè)備機(jī)房的典型TSP濃度為室外30每40米克/立方米，室內(nèi)5毫克/立方米，典型的硫酸鹽水戶外為4每6米克/立方米。 假設(shè)停滯擴(kuò)散過程中自然對(duì)流被忽略，菲克定律簡(jiǎn)化為考慮EIS中的實(shí)驗(yàn)，濃度可分解為直流和交流成分，在EIS的假設(shè)下，擴(kuò)散速率比測(cè)量頻率要慢得多，因此在測(cè)量時(shí)濃度是恒定的，直流分量的動(dòng)態(tài)被忽略,菲克定律可以用交流分量來重寫。
例如DIP或鷗翼SMT，因?yàn)樗鼈兛梢蕴峁└喂痰腜CB連接。隨著其他行業(yè)趨向于采用更小的無鉛封裝，這進(jìn)一步限制了器件的選擇?？赡芟Ｍ@得模具形式的零件，尤其是如果某個(gè)組件只能以塑料包裝的形式提供時(shí)。然后可以將管芯重新包裝在符合高溫要求的密封包裝或多芯片模塊中。但是，在少數(shù)幾個(gè)可以在高溫下工作的組件中，有一個(gè)較小的子集可以用作測(cè)試的。由于時(shí)間限制和測(cè)試設(shè)備的限制，業(yè)內(nèi)工程師可能傾向于將設(shè)備的鑒定限制為特定的應(yīng)用電路。而不覆蓋所有關(guān)鍵的設(shè)備參數(shù)，從而限制了組件在其他項(xiàng)目中的復(fù)用，而無需進(jìn)行進(jìn)一步的測(cè)試。關(guān)鍵的非數(shù)據(jù)表IC特性，例如金屬互連中的電遷移，可能導(dǎo)致高溫下的故障。經(jīng)過高溫設(shè)計(jì)和認(rèn)證的IC幸運(yùn)的是。
可能表明余量或魯棒性不足。熱轉(zhuǎn)變糾正措施建議客戶應(yīng)通過評(píng)估現(xiàn)場(chǎng)退貨或客戶對(duì)類似產(chǎn)品中類似行為的投訴來評(píng)估這種故障。電路或組件的其他檢查也是合適的。振動(dòng)階躍應(yīng)力測(cè)試振動(dòng)階躍應(yīng)力測(cè)試的結(jié)果如下：15克時(shí)：松開接地螺絲40Grms時(shí)：LCD上顯示水線40Grms時(shí)：電源故障（無160VDC指示）。振動(dòng)根源分析LCD無法用于根本原因分析。目視檢查電源，發(fā)現(xiàn)破裂的陶瓷泄放電阻與焊點(diǎn)分離。振動(dòng)糾正措施評(píng)估HALT測(cè)試結(jié)果時(shí)重要的問題之一就是確定其相關(guān)性。由于預(yù)計(jì)產(chǎn)品的工作環(huán)境不會(huì)出現(xiàn)任何振動(dòng)，因此振動(dòng)階躍應(yīng)力測(cè)試在某種程度上評(píng)估了設(shè)計(jì)對(duì)運(yùn)輸和運(yùn)輸負(fù)載的穩(wěn)健性。因此，必須基于對(duì)運(yùn)輸和運(yùn)輸過程中看到的實(shí)際負(fù)載的理解進(jìn)行適當(dāng)?shù)脑u(píng)估。
海鑫瑞粒徑儀故障維修效率高并且連接會(huì)變得很差，尤其是一段時(shí)間未使用的設(shè)備。為了克服這個(gè)問題，可以幫助拔下插頭，然后重新配對(duì)。檢查是否有任何斷線會(huì)阻止電源到達(dá)。檢查的輸出：以與電源線可能斷開的相同方式，的輸出也可能如此。同樣，值得檢查的是隨著時(shí)間的流逝腐蝕或氧化的所有連接器，并檢查連接是否斷開。檢查電路的輸入：同樣，如果信號(hào)輸入未到達(dá)，則它將無法執(zhí)行。再次檢查所有開關(guān)，連接器以及任何斷線。通常，可以使用萬用表來檢查電線的導(dǎo)通性，但先要確保電路上沒有通電。通過使用萬用表進(jìn)行故障查找，可以發(fā)現(xiàn)許多可能發(fā)生的明顯故障。如果找不到問題，并且似乎正確的電源已到達(dá)晶體管電路，并且輸入均已連接并存在，并且輸出線路完好無損，則可能需要在晶體管上進(jìn)行進(jìn)一步的故障查找。 kjbaeedfwerfws
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海鑫瑞粒徑儀故障維修效率高
1、顯示屏無法正常顯示
當(dāng)硬度計(jì)顯示屏無法正確顯示信息時(shí)，先檢查電源是否正確連接。如果電源連接正常但顯示屏仍然不活動(dòng)，則可能表示屏幕出現(xiàn)故障。這種情況，建議將硬度計(jì)送回廠家維修或更換屏幕。
2、讀數(shù)不穩(wěn)定或顯著偏差
如果硬度計(jì)在測(cè)試過程中顯示讀數(shù)不穩(wěn)定或出現(xiàn)明顯偏差，可能的原因包括：
缺乏校準(zhǔn)：硬度計(jì)在使用前需要校準(zhǔn)，以確保準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。長(zhǎng)期缺乏校準(zhǔn)或校準(zhǔn)不當(dāng)可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。解決方案是定期校準(zhǔn)并遵循硬度計(jì)手冊(cè)中的說明。
測(cè)試環(huán)境不穩(wěn)定：硬度測(cè)試應(yīng)在穩(wěn)定的環(huán)境下進(jìn)行，避免外界干擾。不良的測(cè)試環(huán)境可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。解決辦法是測(cè)試時(shí)選擇安靜且溫度穩(wěn)定的環(huán)境，避免其他設(shè)備的干擾。
樣品制備不當(dāng)：在硬度測(cè)試之前，必須對(duì)樣品進(jìn)行的制備。樣品的表面不規(guī)則性、雜質(zhì)或涂層可能會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。解決方案是在測(cè)試前清潔和拋光樣品，以確保表面光滑。
圖6.通過實(shí)驗(yàn)?zāi)B(tài)分析獲得的電源PCB的固有頻率(f1=18，2Hz，阻尼比，泛=0.95%)圖6.通過CirVibe仿真獲得的電源PCB的固有頻率(從有限元分析獲得的模態(tài)形狀也與實(shí)驗(yàn)?zāi)B(tài)分析結(jié)果一致。 3)，PCB封裝建立，單擊文件>>新建>>庫>>PCB庫(，pcblib)并保存，PCB的包裝是否完好確定了PCB的可制造性，除了上面提到的陽和陰之間的匹配以及原理圖符號(hào)之外，還應(yīng)該關(guān)注許多細(xì)節(jié)，例如。 [客戶PCB面板"或簡(jiǎn)稱為[PCB面板"是用于組裝的面板，也就是說，在面板上裝有SMD或PTH組件，這就是您作為客戶收到的面板，拼板可以像在PCB板之間留出100mil(0.100[)間距并在四個(gè)邊緣上鋪以500mil(0.50")邊框的矩形板制片一樣簡(jiǎn)單。
3、壓頭磨損或損壞
硬度計(jì)的壓頭直接接觸測(cè)試樣品，長(zhǎng)時(shí)間使用后可能會(huì)出現(xiàn)磨損或損壞。當(dāng)壓頭出現(xiàn)磨損或損壞跡象時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試錯(cuò)誤。解決辦法是定期檢查壓頭的狀況，如果發(fā)現(xiàn)明顯磨損或損壞，應(yīng)及時(shí)更換。
4、讀數(shù)異常大或小
如果硬度計(jì)讀數(shù)明顯偏離標(biāo)準(zhǔn)值，可能的原因包括：
壓力調(diào)整不當(dāng)：硬度計(jì)在測(cè)試時(shí)需要施加一定的壓力，壓力過大或不足都可能導(dǎo)致讀數(shù)異常。解決方法是根據(jù)樣品的硬度特性調(diào)整測(cè)試壓力。
硬度計(jì)的內(nèi)部問題：硬度計(jì)的內(nèi)部組件可能會(huì)出現(xiàn)故障，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。解決辦法是對(duì)硬度計(jì)進(jìn)行定期維護(hù)，并按照制造商的說明進(jìn)行維修或更換部件。
5、無法執(zhí)行自動(dòng)轉(zhuǎn)換
一些先進(jìn)的硬度計(jì)具有自動(dòng)轉(zhuǎn)換功能，但有時(shí)可能無法運(yùn)行。解決方法是檢查硬度計(jì)設(shè)置，確保正確選擇硬度標(biāo)準(zhǔn)和換算單位
電解質(zhì)薄膜中的腐蝕性污染物濃度可能很高，尤其是在交替潤(rùn)濕和干燥的條件下，在薄膜腐蝕條件下，來自大氣的氧氣也很容易提供給電解質(zhì)，大氣腐蝕的機(jī)理如6所示，為簡(jiǎn)單起見，該表面被視為[理論上"的清潔表面，大氣腐蝕的機(jī)理[59]大氣腐蝕的機(jī)理如6所示。 其中一些使用免洗的有機(jī)酸助焊劑，而其他使用免洗的松香助焊劑，則在混合氣體環(huán)境中進(jìn)行了氣體成分調(diào)整，以達(dá)到目標(biāo)的500-600nm/day銅腐蝕速率，銅蠕變腐蝕主要在用免清洗有機(jī)酸焊劑進(jìn)行波峰焊接的ImAg成品板上觀察到。 從而延長(zhǎng)產(chǎn)品的總體使用壽命保留所利，Inc，是的工程仿真軟件提供商之一，其技術(shù)使客戶能夠準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)其產(chǎn)品設(shè)計(jì)將在現(xiàn)實(shí)中蓬勃發(fā)展，該公司擁有一個(gè)集成的多物理場(chǎng)軟件工具的通用臺(tái)，該工具旨在優(yōu)化廣泛行業(yè)的產(chǎn)品開發(fā)流程。
以使其逐步執(zhí)行其程序序列。在這種情況下，工程師通常通過“在線”查詢軟件來確定序列在何處停止，目的是將問題跟蹤到特定的I/O模塊和輸入或輸出點(diǎn)。通過識(shí)別I/O點(diǎn)，工程師可以將問題追溯到根本原因。這可能是PLC配置錯(cuò)誤，斷路器跳閘，接線端子松動(dòng)，24VDC電源故障或接線問題。I/O模塊本身可能需要更換。這依賴于隨時(shí)可用的替代品供應(yīng)，這對(duì)于遺留系統(tǒng)而言變得越來越困難。輸入組的異常行為或故障表明存在內(nèi)部PLC錯(cuò)誤或通用電源問題。如果不是I/O模塊出現(xiàn)故障的原因，并且電源和接線問題已消除，則應(yīng)注意現(xiàn)場(chǎng)設(shè)備-I/O模塊外部的組件。這些可能配置不正確，受到機(jī)械損壞，或者可能由于例如進(jìn)水而導(dǎo)致電氣故障。地面完整性正確接地對(duì)于保護(hù)PLC和維護(hù)人員都很重要。
不比前65個(gè)兩個(gè)透射率值大，這些點(diǎn)的透射率值在表19中給出，表19.自然頻率下頂蓋的透射率-實(shí)驗(yàn)4固有頻率[Hz]透射率6468.077324.012172.2在1580Hz之后，夾具振動(dòng)變得明顯并且不可能評(píng)論在此頻率之后在頂蓋響應(yīng)曲線中觀察到的峰值是由于夾具振動(dòng)還是由于頂蓋動(dòng)力學(xué)而出現(xiàn)。 該信息將使在不遭受電路故障的情況下大化組件的使用壽命成為可能，該報(bào)告提出了許多特定的技術(shù)，用于提高監(jiān)視電路和儀器維修組件中可能導(dǎo)致儀器維修故障的老化引起的變化的能力，一些討論了在電子儀器維修監(jiān)控之外的應(yīng)用中已使用的有前途的技術(shù)。 但是，暴露于高溫會(huì)使它們變脆，因此更容易斷裂，在圖4a中還可以觀察到，這個(gè)暗黑的燒焦區(qū)域從PTH的外壁延伸到銅跡線(左上角)，損壞的路徑和高溫的跡象表明，故障是由于導(dǎo)電絲的形成(CFF)所致，它在PTH和接地層的銅走線之間形成了一條導(dǎo)電路徑。 該標(biāo)準(zhǔn)與灰塵對(duì)電子設(shè)備可靠性的影響有關(guān)，臨界沉積密度與粉塵污染的成分有關(guān)，19的一些研究[78]表明，美國(guó)電信設(shè)備機(jī)房的典型TSP濃度為室外30每40米克/立方米，室內(nèi)5毫克/立方米，典型的硫酸鹽水戶外為4每6米克/立方米。 假設(shè)停滯擴(kuò)散過程中自然對(duì)流被忽略，菲克定律簡(jiǎn)化為考慮EIS中的實(shí)驗(yàn)，濃度可分解為直流和交流成分，在EIS的假設(shè)下，擴(kuò)散速率比測(cè)量頻率要慢得多，因此在測(cè)量時(shí)濃度是恒定的，直流分量的動(dòng)態(tài)被忽略,菲克定律可以用交流分量來重寫。
例如DIP或鷗翼SMT，因?yàn)樗鼈兛梢蕴峁└喂痰腜CB連接。隨著其他行業(yè)趨向于采用更小的無鉛封裝，這進(jìn)一步限制了器件的選擇?？赡芟Ｍ@得模具形式的零件，尤其是如果某個(gè)組件只能以塑料包裝的形式提供時(shí)。然后可以將管芯重新包裝在符合高溫要求的密封包裝或多芯片模塊中。但是，在少數(shù)幾個(gè)可以在高溫下工作的組件中，有一個(gè)較小的子集可以用作測(cè)試的。由于時(shí)間限制和測(cè)試設(shè)備的限制，業(yè)內(nèi)工程師可能傾向于將設(shè)備的鑒定限制為特定的應(yīng)用電路。而不覆蓋所有關(guān)鍵的設(shè)備參數(shù)，從而限制了組件在其他項(xiàng)目中的復(fù)用，而無需進(jìn)行進(jìn)一步的測(cè)試。關(guān)鍵的非數(shù)據(jù)表IC特性，例如金屬互連中的電遷移，可能導(dǎo)致高溫下的故障。經(jīng)過高溫設(shè)計(jì)和認(rèn)證的IC幸運(yùn)的是。
可能表明余量或魯棒性不足。熱轉(zhuǎn)變糾正措施建議客戶應(yīng)通過評(píng)估現(xiàn)場(chǎng)退貨或客戶對(duì)類似產(chǎn)品中類似行為的投訴來評(píng)估這種故障。電路或組件的其他檢查也是合適的。振動(dòng)階躍應(yīng)力測(cè)試振動(dòng)階躍應(yīng)力測(cè)試的結(jié)果如下：15克時(shí)：松開接地螺絲40Grms時(shí)：LCD上顯示水線40Grms時(shí)：電源故障（無160VDC指示）。振動(dòng)根源分析LCD無法用于根本原因分析。目視檢查電源，發(fā)現(xiàn)破裂的陶瓷泄放電阻與焊點(diǎn)分離。振動(dòng)糾正措施評(píng)估HALT測(cè)試結(jié)果時(shí)重要的問題之一就是確定其相關(guān)性。由于預(yù)計(jì)產(chǎn)品的工作環(huán)境不會(huì)出現(xiàn)任何振動(dòng)，因此振動(dòng)階躍應(yīng)力測(cè)試在某種程度上評(píng)估了設(shè)計(jì)對(duì)運(yùn)輸和運(yùn)輸負(fù)載的穩(wěn)健性。因此，必須基于對(duì)運(yùn)輸和運(yùn)輸過程中看到的實(shí)際負(fù)載的理解進(jìn)行適當(dāng)?shù)脑u(píng)估。
海鑫瑞粒徑儀故障維修效率高并且連接會(huì)變得很差，尤其是一段時(shí)間未使用的設(shè)備。為了克服這個(gè)問題，可以幫助拔下插頭，然后重新配對(duì)。檢查是否有任何斷線會(huì)阻止電源到達(dá)。檢查的輸出：以與電源線可能斷開的相同方式，的輸出也可能如此。同樣，值得檢查的是隨著時(shí)間的流逝腐蝕或氧化的所有連接器，并檢查連接是否斷開。檢查電路的輸入：同樣，如果信號(hào)輸入未到達(dá)，則它將無法執(zhí)行。再次檢查所有開關(guān)，連接器以及任何斷線。通常，可以使用萬用表來檢查電線的導(dǎo)通性，但先要確保電路上沒有通電。通過使用萬用表進(jìn)行故障查找，可以發(fā)現(xiàn)許多可能發(fā)生的明顯故障。如果找不到問題，并且似乎正確的電源已到達(dá)晶體管電路，并且輸入均已連接并存在，并且輸出線路完好無損，則可能需要在晶體管上進(jìn)行進(jìn)一步的故障查找。 kjbaeedfwerfws
