根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)蠕變腐蝕的經(jīng)驗(yàn)，Veale對(duì)具有各種飾面的測(cè)試板進(jìn)行了混流氣體(MFG)環(huán)境的測(cè)試[5]，并報(bào)告說(shuō)無(wú)鉛板將無(wú)法幸免于自動(dòng)化儀表協(xié)會(huì)(ISA)71.04-1985嚴(yán)重等級(jí)G3[6]，而ENIG和ImAg板甚至無(wú)法在ISA嚴(yán)重等級(jí)G2下幸免。
久濱粒度分析儀(維修)持續(xù)維修中
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顯微硬度測(cè)試的常見(jiàn)問(wèn)題
1、準(zhǔn)確性 – 儀器以線性方式讀取公認(rèn)硬度標(biāo)準(zhǔn)（經(jīng)過(guò)認(rèn)證的試塊）的能力，以及將該準(zhǔn)確性轉(zhuǎn)移到測(cè)試樣本上的能力。
2、重復(fù)性- 結(jié)果是否可以使用公認(rèn)的硬度標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)。
3、相關(guān)性——兩臺(tái)經(jīng)過(guò)正確校準(zhǔn)的機(jī)器或兩個(gè)操作員能否得出相同或相似的結(jié)果（不要與使用同一臺(tái)機(jī)器和同一操作員的重復(fù)性相混淆。

受訪者報(bào)告說(shuō)，沒(méi)有任何故障是由過(guò)于激進(jìn)的設(shè)計(jì)功能引起的，返工的作用尚不清楚，受訪者沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法來(lái)評(píng)估其產(chǎn)品的蠕變腐蝕敏感性，圖如上圖所示，在第二次腐蝕均勻度試驗(yàn)(500ppbH2S環(huán)境)中，生長(zhǎng)在銅箔上的銅腐蝕產(chǎn)物的厚度約為1。 免清洗助焊劑，其中使用的松香或樹(shù)脂含量低，沒(méi)有此封裝保護(hù)，因此，它們要求終組裝件中焊劑中的氯化物含量較低，IPC[71]建議將10米克/英寸2的NaCl當(dāng)量離子殘基作為PCB的大可接受污染水，而美國(guó)環(huán)境保護(hù)卓越中心(NDCEE)建議將2.5米克/英寸2作為氯化物的大可接受污染水。

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1、機(jī)器。
維氏顯微硬度測(cè)試儀通過(guò)使用自重產(chǎn)生力來(lái)進(jìn)行測(cè)量。這些輕負(fù)載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差，但這可能會(huì)導(dǎo)致重復(fù)性問(wèn)題。在大多數(shù)情況下，顯微硬度計(jì)使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測(cè)試件，“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測(cè)量裝置設(shè)定?？偠灾?，一件樂(lè)器給人留下印象大約需要 30 秒。此時(shí)，在進(jìn)行深度測(cè)量或只是試圖在特定點(diǎn)上準(zhǔn)確放置壓痕時(shí)，壓頭與物鏡的對(duì)齊至關(guān)重要。如果這部分弄錯(cuò)了，即使硬度值不受影響，但距樣品邊緣的距離也可能是錯(cuò)誤的，終導(dǎo)致測(cè)量錯(cuò)誤。
單位g*s，RMSh:導(dǎo)線的垂直部分xxivh:板厚板I:1M的面積慣性矩(XZ面)1I:2M的面積慣性矩(YZ面)2I:導(dǎo)線的面積慣性矩導(dǎo)線的水部分hI:導(dǎo)線的垂直部分的區(qū)域慣性矩vI:導(dǎo)線的區(qū)域的慣性矩wICP:集成電路壓電IEST:環(huán)境科學(xué)與技術(shù)學(xué)院K:應(yīng)力集中系數(shù)K:軸向應(yīng)力的應(yīng)力集中系數(shù)0。 他認(rèn)為PCB是集總質(zhì)量，在該模型中，他們不考慮連續(xù)振動(dòng)模式，因?yàn)樗麄冎粚?duì)PCB的模式感興趣，榮格等，[23]對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行了結(jié)構(gòu)振動(dòng)分析，他們通過(guò)使用分析建模，有限元建模和測(cè)試獲得了結(jié)果，在他們的分析模型中。

2、運(yùn)營(yíng)商。
顯微硬度測(cè)試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵因素。模糊圖像和結(jié)果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下，操作員有時(shí)會(huì)急于進(jìn)行測(cè)試并取出零件。必須小心確保正確的結(jié)果。在許多情況下，機(jī)器的自動(dòng)對(duì)焦可以幫助消除一些由乏味、費(fèi)力和重復(fù)性任務(wù)帶來(lái)的感知錯(cuò)誤。
手動(dòng)記錄和轉(zhuǎn)換結(jié)果可能是操作員出錯(cuò)的另一個(gè)原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。  自動(dòng)給出轉(zhuǎn)換和結(jié)果的數(shù)字顯微硬度測(cè)試儀可以幫助消除這個(gè)問(wèn)題。此外，相機(jī)幾乎可以連接到任何顯微硬度測(cè)試儀上，以幫助找到印模末端。
離子殘留物是根據(jù)與水吸引的離子偶力的強(qiáng)度而動(dòng)員的，分子間鍵電阻率，當(dāng)金屬在電解溶液中移動(dòng)時(shí)發(fā)生腐蝕，水在取決于溶解離子的pH值下還原金屬離子，形成水金屬溶液，這些離子在電場(chǎng)中傳播時(shí)會(huì)發(fā)生導(dǎo)電(圖3)。 在吸濕能力測(cè)試中重量增加大的粉塵具有高的阻抗衰減，塵埃水溶液的離子種類/濃度或電導(dǎo)率可用于對(duì)與電化學(xué)遷移相關(guān)的故障進(jìn)行塵埃分類，離子濃度和電導(dǎo)率高的粉塵失效時(shí)間短，除實(shí)驗(yàn)研究外，還對(duì)電信行業(yè)中許多現(xiàn)場(chǎng)退貨產(chǎn)品進(jìn)行了故障分析。

3、環(huán)境問(wèn)題。
由于顯微硬度測(cè)試中使用輕負(fù)載，振動(dòng)可能會(huì)影響負(fù)載精度。壓頭或試樣的振動(dòng)會(huì)導(dǎo)致壓頭更深地進(jìn)入零件，從而產(chǎn)生更柔軟的結(jié)果。顯微硬度計(jì)應(yīng)始終放置在專用、水平、堅(jiān)固、獨(dú)立的桌子上。確保您的桌子沒(méi)有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計(jì)硬度計(jì)機(jī)器具有高倍光學(xué)鏡片。如果在測(cè)試儀附近進(jìn)行切割、研磨或拋光，鏡頭上可能會(huì)沾上污垢，從而導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。
可以認(rèn)為，Cl從粉塵污染中溶解并引起銅的腐蝕，灰塵1沉積的測(cè)試板上的腐蝕，在四組中，沉積有灰塵4的測(cè)試板的均TTF高，為119小時(shí)，測(cè)試期間只有一塊板失敗，除故障板中的一個(gè)位置外，未觀察到腐蝕或ECM。 如果他們有備份，請(qǐng)重新加載它，您就可以開(kāi)始了，摘要:在HMI上備份軟件是個(gè)好主意的原因您的維修專家將無(wú)法始終保留或檢索您的軟件，沒(méi)有良好的備份，將很難從機(jī)器制造商那里獲得原始軟件，隨著時(shí)間的流逝，某些文件可能會(huì)損壞。 與隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試結(jié)果相比，半實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｐ偷慕Y(jié)果足以預(yù)測(cè)焊點(diǎn)疲勞，D，Barker&Y，Chen[22]研究了印刷儀器維修(PWB)在其工作環(huán)境中的固有頻率的確定，強(qiáng)調(diào)了準(zhǔn)確識(shí)別固有頻率對(duì)確定振動(dòng)疲勞損傷的重要性。

Tektronix465和465B100MHz示波器是Tek有史以來(lái)好的示波器之一，對(duì)于故障排除和常規(guī)電子工作非常理想且價(jià)格合理。Tek485是一個(gè)不錯(cuò)的350MHz示波器。還有許多其他400系列Tek示波器，其中幾乎任何一個(gè)都可以提供的服務(wù)范圍。但是，他們的年齡可以追溯到70年代到80年代初，而且許多人都在以更實(shí)惠的價(jià)格出現(xiàn)電源問(wèn)題。:(:)雖然Tek定制部件不再可用于這些示波器（而且您無(wú)論如何也無(wú)法負(fù)擔(dān)！但許多電源問(wèn)題通常會(huì)導(dǎo)致示波器死機(jī)（但也可能會(huì)導(dǎo)致諸如時(shí)基之類的特定部分（如果無(wú)法正常工作），可以用現(xiàn)成的零件進(jìn)行維修，而費(fèi)用卻很少。Themostlikelycausesofatotallydeadscope,oronewithmultiplesystemproblems,areshortedtantalum"dipped"capacitorsdraggingdownoneormorepowersupplyrails.Apparently,Tekusedabatchofunreliablecapsonthesomeofthe400Seriesscopes.WhilealuminumelectrolyticsusuallyjustdryoutwithdecreasedcapacitanceandincreasedESR,thesedippedtantalumsgoshortcircuit.Fortunaby,thedesignoftheswitchingpowersuppliesinthesescopesissuchthatthecontrollershutsdownfromaseriousoverloadorshortratherthanlettingitssmokeout.Iftheoverloadisononlyonevoltagerailandnotsevere(e.g.,througharesistor),onlythatvoltagemaybeloworabsentresultinginlossoffunctionalityorthesupplymaycycleonandoff,butnotatotallydeadscope.So,thefirststepis(WITHPOWEROFF)tochecktheresistanceofeachvoltagetestpointtogroundwithamultimeter.Whiletheexpectedresistancesmaynotbeknownexceptfromaservicemanual(ifthat),anythingverylow(e.g.,10ohms)issuspect.HerearetypicalvaluesmeasuredonaTek485usingaFluke87DMMwiththeblackleadonground:+50V,2.1Kohms;+15V,89ohms;+5V,70ohms;-5V,222ohms;-15V,152ohms.Theresistancefor+5Vchangessignificantlydependingonfrontpanelsettingsandwhichincandescentindicatorlampsshouldbelitandmaygobelow35ohms.Onthisscope,the-15Vrailoriginallymeasuredabout10ohmsduetoabadcap.Whereoneoftheseisfound,attempttodeterminetheboftheshorttoaspecificcircuitboard.Then,tracethewiringonthatboardtolocatethepossiblebadcaps.AgoodDMMormilliohmmetercanhelptotrackdownthecapsincePCBfoilresistanceishighenoughtobemeasuredandtheresistancetogroundwillbelowestatthebatthebadcap.Atthispoint,unsolderingoneleadofeachcapandcheckingitsresistanceisthesafestapproach.Withcare,thiscanbedonefromthecomponentsideoftheboardwhichisfortunatesinceremovingsomeoftheselargePCBscanbearoyalpain.Heattheleadwithasolderingironandpullitfree.Then,useavacuumdesolderingtool("SoldaPullet")tobthehole.Checktheresistanceofthecapand/oracrossthesupplyrailtodetermineifyoufoundthecorrectone.Thebadcapmentionedabovewasfoundinabout5minutesinthismanner.Therearetypicallyonlyafewofthesecapsoneachboardbutit'spossibleforthebadonetobeonaboardthatisn'teasilyaccessible.Itmaybeeveneasierassometimesthebadcapwillhavesplitopenandthusbeobviouslybad.I'vealsoheardofcaseswherethecapexplodedandtheonlythingleftwereitslegs!(Thescopemayevenhaveworkedfineatthatpointwiththeshortremoved!)However,anylowvalueresistorsbetweenthepowersupplyrailandshortedcapmaybecomequitetoasty,burnt,andcarbonized,alsoresultinginaverynoticeablestink.:)AndthecarbonmayevenshorttoaPCBviaifthereisoneunderneathit.:(:)IhadthishappenonthesameTek-485afewyearslater,whereitalsotookouta2N2222transistornearby.Buteventhoughtheresistor'ssurfacewasburnttocrispycarbon,whencleanedoff,theresistancewasstillcorrect.(However,Ididreplaceit.)如果這些方法不起作用。

例如公司名稱，配置說(shuō)明(這在舊PC主板中通常使用)等，絲網(wǎng)印刷可以印刷在板的兩個(gè)表面上，術(shù)語(yǔ)絲網(wǎng)印刷也稱為覆蓋，圖2顯示了電路的一個(gè)區(qū)域，所有用白色制成的印刷品均對(duì)應(yīng)于絲網(wǎng)印刷，阻焊層和絲網(wǎng)印刷-印刷儀器維修概念PCB圖2.阻焊層擴(kuò)展(a)和絲網(wǎng)印刷(b)層堆疊如本文開(kāi)頭所述。 從Cadence(Allegro)軟件生成Gerber文件|手推車確定電影名稱，例如OUTLINE，然后單擊OK，從Cadence(Allegro)軟件生成Gerber文件|手推車在子類選擇窗口中，展開(kāi)BOARDGEOMETRY。 在本文中，您將如何設(shè)計(jì)具有接地回路的PCB，按照此處提到的提示進(jìn)行操作，將可以設(shè)計(jì)出高質(zhì)量的儀器維修，在PCB設(shè)計(jì)中使用接地回路提供接地回路是PCB的佳設(shè)計(jì)實(shí)踐，可以在同一層或相鄰層上提供該路徑，以用于差分對(duì)。 單位G*s，rmsf:固有頻率nQ:共振時(shí)的透射率nPSD:在輸入f處以G2/Hz為單位的輸入加速度頻譜密度，n關(guān)于Miles*方程的使用，有幾點(diǎn)要指出:邁爾方程基于SDOF系統(tǒng)受到坦隨機(jī)輸入(白噪聲輸入)的響應(yīng)。

盡管MTBF不考慮計(jì)劃的維護(hù)，但仍可用于計(jì)算預(yù)防性更換的檢查頻率之類的事情。如果已知資產(chǎn)可能在下一次故障之前運(yùn)行了幾個(gè)小時(shí)，則采取潤(rùn)滑或重新校準(zhǔn)等預(yù)防措施可以將故障降至低，并延長(zhǎng)資產(chǎn)的正常運(yùn)行時(shí)間。什么是均故障時(shí)間（MTTF）均故障時(shí)間（MTTF）是用于不可修復(fù)系統(tǒng)的可靠性的非?；镜亩攘?。它表示一個(gè)項(xiàng)目預(yù)期持續(xù)運(yùn)行直到失敗的時(shí)間長(zhǎng)度。我們通常將MTTF稱為任何產(chǎn)品或設(shè)備的生命周期。它的值是通過(guò)在較長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)查看大量相同種類的項(xiàng)目并查看它們的均故障時(shí)間來(lái)計(jì)算的。均故障時(shí)間（MTTF）在制造業(yè)中，MTTF是通常用于評(píng)估制成品可靠性的眾多指標(biāo)之一。但是，在區(qū)分MTTF和MTBF方面仍然存在很多困惑，因?yàn)樗鼈兊亩x有些相似。

久濱粒度分析儀(維修)持續(xù)維修中在組件的早期使用壽命（稱為老化階段）中，由于初的制造缺陷以及組裝和測(cè)試過(guò)程中引入的損壞，它更有可能發(fā)生故障。電子元件的初始測(cè)試使用高溫作為時(shí)間加速器，以驗(yàn)證故障條件的限制并消除后續(xù)制造設(shè)備中的明顯缺陷。一旦初的測(cè)試階段結(jié)束，通過(guò)工廠測(cè)試和現(xiàn)場(chǎng)的初步測(cè)試，設(shè)備的總體故障率通常會(huì)保持相當(dāng)?shù)偷乃當(dāng)?shù)年。對(duì)于1980年代制造的電子設(shè)備，這種MTBF或使用壽命預(yù)計(jì)會(huì)持續(xù)十年以上，并且在整個(gè)時(shí)間段內(nèi)都在的范圍內(nèi)運(yùn)行。當(dāng)由于與年齡相關(guān)的故障而導(dǎo)致故障率增加時(shí)，使用壽命終止。與年齡相關(guān)的故障示例包括絕緣擊穿，電流泄漏增加，電阻損失和電容損失。老化受到電壓差，特定組件上的電壓周期以及其他因素的長(zhǎng)期壓力的影響。解決老化公用事業(yè)的基礎(chǔ)設(shè)施發(fā)電廠已充分意識(shí)到老化問(wèn)題。  kjbaeedfwerfws