可能會(huì)破壞我們的個(gè)人和商業(yè)生活，PCB故障的原因多種多樣，它們通常與一些主要因素有關(guān)，例如環(huán)境問(wèn)題，壽命，甚至制造錯(cuò)誤，盡管故障并不常見(jiàn)，但有時(shí)可能會(huì)在使用時(shí)或什至在多年使用后發(fā)生，以下是一些可能導(dǎo)致PCB故障的主要因素。
LSInstruments粒度儀參數(shù)不準(zhǔn)確維修經(jīng)驗(yàn)豐富
當(dāng)你的儀器出現(xiàn)如下故障時(shí)，如顯示屏不亮、示值偏大、數(shù)據(jù)不準(zhǔn)、測(cè)不準(zhǔn)、按鍵失靈、指針不動(dòng)、指針抖動(dòng)、測(cè)試數(shù)據(jù)偏大、測(cè)試數(shù)據(jù)偏小,不能開(kāi)機(jī)，不顯示等故障，不要慌，找凌科自動(dòng)化，技術(shù)維修經(jīng)驗(yàn)豐富，維修后有質(zhì)保，維修速度快。

該設(shè)備的清潔不好，放大器內(nèi)部仍然殘留了許多有害污染物，他們聲稱已經(jīng)更換了絲，并集成了電路，但這些項(xiàng)目不在更改項(xiàng)目的零件清單上，驅(qū)動(dòng)板未翻新光電耦合器和電容器是已知問(wèn)題，沒(méi)有更換，這是維修區(qū)的標(biāo)準(zhǔn)更換。 并且的銅應(yīng)小于300埃/月，ASHRAE在2009年發(fā)布了有關(guān)該主題的白皮書(shū)，并在2011年對(duì)其進(jìn)行了修訂[12]，開(kāi)發(fā)無(wú)鉛PCB組件供應(yīng)商可以用來(lái)滿足其客戶的產(chǎn)品可承受其產(chǎn)品將在2011年ASHRAE白皮書(shū)中定義的合理清潔環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試的挑戰(zhàn)仍然存在。
LSInstruments粒度儀參數(shù)不準(zhǔn)確維修經(jīng)驗(yàn)豐富
(1)加載指示燈和測(cè)量顯微鏡燈不亮
先檢查電源是否連接好，然后檢查開(kāi)關(guān)、燈泡等，如果排除這些因素后仍不亮，則需要檢查負(fù)載是否完全施加或開(kāi)關(guān)是否正常。如果排除后仍不正常，就要從線路（電路）入手，逐步排查。

(2)測(cè)量顯微鏡渾濁，壓痕不可見(jiàn)或不清晰
這應(yīng)該從調(diào)整顯微鏡的焦距和光線開(kāi)始。若調(diào)整后仍不清楚，應(yīng)分別旋轉(zhuǎn)物鏡和目鏡，并分別移動(dòng)鏡內(nèi)虛線、實(shí)線、劃線的三個(gè)平面鏡。仔細(xì)觀察問(wèn)題出在哪一面鏡子上，然后拆下，用長(zhǎng)纖維脫脂棉蘸無(wú)水酒精清洗，安裝后按相反順序觀察，然后送修或更換千分尺。
塵埃顆粒的大小和來(lái)源根據(jù)塵埃顆粒的大小，它們分為兩類:細(xì)模式顆粒和粗模式顆粒[30]，細(xì)模式顆粒定義為小于或等于2.5米的顆粒直徑，它們通常是通過(guò)低揮發(fā)性氣體的冷凝產(chǎn)生的，然后將這些核中的許多核聚結(jié)以產(chǎn)生更大的粒子。 因此，擁有一個(gè)空文件不會(huì)發(fā)出警告標(biāo)志，大綱:包括機(jī)械/輪廓嗎，沒(méi)有設(shè)計(jì)范圍，您將無(wú)法獲得準(zhǔn)確的報(bào)價(jià)，更不用說(shuō)開(kāi)始生產(chǎn)了，組合2銅/絲印組合:設(shè)計(jì)師將公司名稱和零件編號(hào)添加到其銅層中時(shí)，越來(lái)越多的設(shè)計(jì)出現(xiàn)了絲印層疊加在銅層上的情況。

(3)當(dāng)壓痕不在視野范圍內(nèi)或輕微旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)時(shí)，壓痕位置變化較大
造成這種情況的原因是壓頭、測(cè)量顯微鏡和工作臺(tái)的軸線不同。由于滑枕固定在工作軸底部，因此應(yīng)按下列順序進(jìn)行調(diào)整。
①調(diào)整主軸下端間隙，保證導(dǎo)向座下端面不直接接觸主軸錐面；
②調(diào)整轉(zhuǎn)軸側(cè)面的螺釘，使工作軸與主軸處于同一中心。調(diào)整完畢后，在試塊上壓出一個(gè)壓痕，在顯微鏡下觀察其位置，并記錄；
③輕輕旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)（保證試塊在工作臺(tái)上不移動(dòng)），在顯微鏡下找出試塊上不旋轉(zhuǎn)的點(diǎn)，即為工作臺(tái)的軸線；
④ 稍微松開(kāi)升降螺桿壓板上的螺絲和底部螺桿，輕輕移動(dòng)整個(gè)升降螺桿，使工作臺(tái)軸線與測(cè)量顯微鏡上記錄的壓痕位置重合，然后擰緊升降螺桿。壓板螺釘和調(diào)節(jié)螺釘壓出一個(gè)壓痕并相互對(duì)比。重復(fù)以上步驟，直至完全重合。

(4)檢定中示值超差的原因及解決方法
①測(cè)量顯微鏡的刻度不準(zhǔn)確。用標(biāo)準(zhǔn)千分尺檢查。如果沒(méi)有，可以修理或更換。
②金剛石壓頭有缺陷。用80倍體視顯微鏡觀察是否符合金剛石壓頭檢定規(guī)程的要求。如果存在缺陷，請(qǐng)更換柱塞。
③ 若負(fù)載超過(guò)規(guī)定要求或負(fù)載不穩(wěn)定，可用三級(jí)標(biāo)準(zhǔn)小負(fù)載測(cè)功機(jī)檢查。如果負(fù)載超過(guò)要求（±1.0%）但方向相同，則杠桿比發(fā)生變化。松開(kāi)主軸保護(hù)帽，轉(zhuǎn)動(dòng)動(dòng)力點(diǎn)觸點(diǎn)，調(diào)整負(fù)載（杠桿比），調(diào)整后固定。若負(fù)載不穩(wěn)定，可能是受力點(diǎn)葉片鈍、支點(diǎn)處鋼球磨損、工作軸與主軸不同心、工作軸內(nèi)摩擦力大等原因造成。 。此時(shí)應(yīng)檢查刀片和鋼球，如有鈍或磨損，應(yīng)修理或更換。檢查工作軸并清潔。注意軸周圍鋼球的匹配。
某些CRT監(jiān)視器確實(shí)可以用作操作員界面，例如，F(xiàn)anuc的CRT顯示器既可以顯示，又可以讓人們與他們的機(jī)器通信，陰射線管是指顯示器的玻璃管屏幕，如今，CRT顯示器與LCD顯示器相比已經(jīng)過(guò)時(shí)且效率低下。 我深深感謝他們對(duì)我的信任，我要感謝CALCE的黃玉涵博士，戴軍博士，柴飛和何小飛，Vicor的LidiaLee博士，王文龍和HardieMacauley，肯·珍，唐·納格勒和克里斯蒂娜·德穆?tīng)栐贒rger。

一家更好的PCB制造商將進(jìn)行一系列檢查，以防止設(shè)計(jì)錯(cuò)誤。在我們的下一篇文章中，我們將研究PCB組裝失敗的一些其他原因-更重要的是，如何避免它們。PCB設(shè)計(jì)技巧—使用接地回路避免不必要的電流印刷（PCB）中的電流會(huì)隨著狀態(tài)的變化而產(chǎn)生-例如邏輯高到邏輯低。該電流在導(dǎo)體附產(chǎn)生電磁場(chǎng)。電磁場(chǎng)的任何變化都可能以光速的一小部分傳播遍及整個(gè)PCB。由于要傳播到電路內(nèi)部的電磁場(chǎng)變化的延遲，走線的兩端可能處于不同的狀態(tài)。因此，在同一層或相鄰層中提供接地回路很重要，以避免導(dǎo)體附產(chǎn)生不必要的電流。在本文中，您將如何設(shè)計(jì)具有接地回路的PCB。按照此處提到的提示進(jìn)行操作，將可以設(shè)計(jì)出高質(zhì)量的。在PCB設(shè)計(jì)中使用接地回路提供接地回路是PCB的佳設(shè)計(jì)實(shí)踐。

它們可用于解決各種工業(yè)和家用設(shè)備中的電氣問(wèn)題，例如電子設(shè)備，電機(jī)控制，家用電器，電源和布線系統(tǒng)，4數(shù)字萬(wàn)用表(DMM，DVOM)以數(shù)字顯示測(cè)量值，這消除了視差誤差，并可能顯示與測(cè)量的量成比例的長(zhǎng)度條，現(xiàn)代萬(wàn)用表由于其準(zhǔn)確性。 Molex連接器(1x4引腳類型)，鋁電解電容器(100米F)86類似地，對(duì)2個(gè)儀器維修進(jìn)行了逐步應(yīng)力加速壽命測(cè)試(SST)，對(duì)1.PCB和2.PCB的測(cè)試均進(jìn)行到第8步，在這些測(cè)試過(guò)程中，針對(duì)1.PCB和2.PCB檢測(cè)到10個(gè)故障。 進(jìn)行了粉塵成分分析以了解其對(duì)可靠性的影響[3，，][30][4][29][28]，結(jié)果表明，粉塵具有復(fù)雜的性質(zhì)，因?yàn)樗瑪?shù)十種成分[28]，來(lái)自不同位置的粉塵可能具有相似的成分，但物質(zhì)的重量百分比不同。 108107(Ohm)106臨界轉(zhuǎn)變阻抗105范圍(3X)104臨界轉(zhuǎn)變103控制范圍(1X)1X23X105060708090100相對(duì)濕度(%)在測(cè)試的相對(duì)濕度范圍內(nèi)的阻抗幅度趨勢(shì)適用于控制板和Dust1沉積板。 此外，為了評(píng)估PBGA組件抵抗振動(dòng)疲勞的可靠性，進(jìn)行了具有四個(gè)PBGA模塊的PBGA組件的等幅振動(dòng)疲勞測(cè)試(圍繞共振的正弦掃描測(cè)試)，并估算了PBGA組件的均失效時(shí)間(MTTF)，通過(guò)使用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察到PBGA組件容易受到振動(dòng)。

自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)根本不會(huì)發(fā)生這種情況，因?yàn)槊看螜z測(cè)都嚴(yán)格遵循相同的標(biāo)準(zhǔn)，因此從一次運(yùn)行到下一次運(yùn)行通過(guò)或失敗的地方?jīng)]有區(qū)別。更的檢查能力由于自動(dòng)光學(xué)檢查過(guò)程通常涉及使用側(cè)面攝像機(jī)和底部攝像機(jī)以及上方的攝像機(jī)，因此在檢查過(guò)程中遺漏任何東西的可能性要小得多。低頭看的人可能要進(jìn)行手工檢查，而AOI方法則不太可能遺漏彎曲的插針或其他從上方看不到的問(wèn)題。除了每個(gè)人都知道的速度因素之外，這具有使AOI檢查比手動(dòng)檢查更可靠的效果。由于AOI檢查方法已被證明比手動(dòng)檢查方法更加專業(yè)和，因此在檢查過(guò)程中檢查的那些標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)了明顯的“零件丟失”或“損壞”的日子。因此，質(zhì)量保證至關(guān)重要，必須在制造時(shí)根據(jù)嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行質(zhì)量保證。

另外，在的包裝的詳細(xì)模擬的相關(guān)JC環(huán)境與所述測(cè)試結(jié)果可用于改進(jìn)該模型中的包的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的熱表示的度。靜電放電造成的損壞可能導(dǎo)致組件立即失效，也可能導(dǎo)致潛在的失效發(fā)生，并在以后顯現(xiàn)出來(lái)，從而大大降低了產(chǎn)品的整體可靠性。2016年，制冷機(jī)市場(chǎng)的應(yīng)用占有大份額。低溫制冷器市場(chǎng)是由應(yīng)用驅(qū)動(dòng)的。該市場(chǎng)已根據(jù)應(yīng)用細(xì)分為，商業(yè)，環(huán)境，能源和電力，運(yùn)輸，采礦和金屬，研究與開(kāi)發(fā)，太空，農(nóng)業(yè)與生物等。應(yīng)用在2016年占據(jù)大份額。該市場(chǎng)預(yù)計(jì)將在2017年至2022年之間以顯著速度增長(zhǎng)，在越來(lái)越多的采用低溫冷卻器以為制導(dǎo)，基于的系統(tǒng)和基于衛(wèi)星的監(jiān)視中的紅外傳感器提供低溫溫度的推動(dòng)下。斯特林冷凍機(jī)市場(chǎng)預(yù)計(jì)在2017年至2022年之間以高速度增長(zhǎng)。

LSInstruments粒度儀參數(shù)不準(zhǔn)確維修經(jīng)驗(yàn)豐富有許多機(jī)會(huì)可以改善數(shù)據(jù)中心的熱環(huán)境，并可以提高應(yīng)用于這些數(shù)據(jù)中心的冷卻技術(shù)的效率[9]。本文僅討論與數(shù)據(jù)中心熱管理有關(guān)的關(guān)鍵因素。圖1.設(shè)備功率趨勢(shì)。數(shù)據(jù)中心通常布置在熱通道和冷通道中，如圖2所示。此布置適用于大多數(shù)機(jī)架設(shè)計(jì)，這些機(jī)架通常采用從前到后的冷卻方式，并且將離開(kāi)穿孔磚的冷空氣（用于高架地板設(shè)計(jì)）和高架冷卻氣流進(jìn)行某種程度的分離（對(duì)于非高架地板設(shè)計(jì)）是從機(jī)架后部排出的熱空氣排出的。機(jī)架位于冷通道上，以使機(jī)架的前部面對(duì)冷通道。類似地，機(jī)架的后部彼此面對(duì)，并提供熱空氣排出區(qū)域。這種布局允許冷空氣清洗數(shù)據(jù)處理（DP）設(shè)備的正面，而來(lái)自機(jī)架的熱空氣在返回空調(diào)（A/C）單元的入口時(shí)會(huì)進(jìn)入熱通道。圖2.數(shù)據(jù)中心熱管理重點(diǎn)領(lǐng)域。  kjbaeedfwerfws