產(chǎn)品詳情
Langer抗干擾開發(fā)系統(tǒng)E1套件
品牌：Langer EMV-Technik
型號(hào)：E1 set
印刷電路板抗干擾性E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)
簡(jiǎn)短介紹：
Langer抗干擾開發(fā)系統(tǒng)E1套件：
E1抗干擾性開發(fā)系統(tǒng)是一套集成電路板開發(fā)過(guò)程中進(jìn)行抗干擾分析的 EMC工具系統(tǒng)。采用E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)，能夠快速精準(zhǔn)地定位脈沖群干擾和靜電放電干擾的原因（薄弱點(diǎn)），使工程師開發(fā)人員能夠準(zhǔn)確針對(duì)薄弱點(diǎn)設(shè)計(jì)恰當(dāng)?shù)?EMC措施，并且使用 E1 評(píng)估 EMC措施的效果。E1 檢測(cè)設(shè)備的搭建空間小，適宜于在電子元件開發(fā)人員的工作場(chǎng)地使用。E1 用戶手冊(cè)對(duì)EMC工作機(jī)制以及集成電路板去干擾的基本測(cè)量策略作出詳細(xì)描述。E1 組套包括一個(gè)脈沖群干擾和靜電放電干擾發(fā)生器、九種不同的電場(chǎng)和磁場(chǎng)源、以及其他各類附件。
Langer抗干擾開發(fā)系統(tǒng)E1套件配置:
1x SGZ 21, 脈沖群發(fā)生器 - 脈沖密度計(jì)數(shù)器
1x S21, 光學(xué)傳感器（10 Mbps）
1x BS 02
1x BS 04DB, 磁場(chǎng)源探頭
1x BS 05D, 磁場(chǎng)源
1x BS 05DU, 磁場(chǎng)源探頭
1x ES 00, 電場(chǎng)源探頭
1x ES 01, 電場(chǎng)源探頭
1x ES 02, 電場(chǎng)源探頭
1x ES 05D, 電場(chǎng)源探頭
1x ES 08D, 電場(chǎng)源探頭
1x MS 02, 磁場(chǎng)探頭
1x E1 acc
1x NT FRI EU
1x E1 case, System case
1x E1 m, E1系列 用戶手冊(cè)
詳細(xì)介紹：
SGZ 21脈沖群發(fā)生器 - 脈沖密度計(jì)數(shù)器
脈沖群發(fā)生器SGZ21產(chǎn)生零電勢(shì)脈沖狀干擾信號(hào)。它采用電氣隔離的對(duì)稱輸出。SGZ21的電流脈沖可以部分地與構(gòu)件、電纜、屏蔽或者接地系統(tǒng)耦合；可以注入模塊，或者間接通過(guò)場(chǎng)源耦合進(jìn)入受測(cè)設(shè)備。SGZ21內(nèi)置一個(gè)脈沖密度計(jì)數(shù)器，通過(guò)光學(xué)輸入端口測(cè)量模塊產(chǎn)生的信號(hào)。
S21光學(xué)傳感器（10 Mbps）
S21 型傳感器是一個(gè)數(shù)字探頭，在猝發(fā)序列試驗(yàn)中，無(wú)反作用地傳遞受試設(shè)備發(fā)出的數(shù)字信號(hào)。使用時(shí)將其固定在受試設(shè)備的電路板上，由受試設(shè)備供電。數(shù)字信號(hào)在傳感器中被轉(zhuǎn)換為光學(xué)信號(hào)，并通過(guò)光纖傳遞至接收器或示波器。
BS 04DB磁場(chǎng)源探頭
BS 04DB產(chǎn)生毫米級(jí)范圍的磁場(chǎng)束特別適用于定位敏感的導(dǎo)線部分、元器件及其連接器件。測(cè)試時(shí)用場(chǎng)源端部射出的電場(chǎng)束來(lái)掃描受試設(shè)備的表面。
BS 05D磁場(chǎng)源
BS 05D產(chǎn)生直徑大于3mm的磁場(chǎng)束。磁場(chǎng)線的方向與場(chǎng)源手柄成90°，因此特別適用于定位兩個(gè)集成電路板之間以及集成電路上很難靠近區(qū)域的薄弱點(diǎn)，例如元器件之間的區(qū)域。實(shí)際應(yīng)用時(shí)，一般應(yīng)該先用場(chǎng)源BS 02或BS 04DB對(duì)薄弱點(diǎn)進(jìn)行粗略定位，而后再使用BS 05D進(jìn)行精確定位。
BS 05DU磁場(chǎng)源探頭
BS 05DU產(chǎn)生毫米級(jí)范圍的磁場(chǎng)束。它的工作原理如同耦合鉗，能夠?qū)⒏蓴_電流有選擇地耦合到單個(gè)導(dǎo)體、IC引腳、SMD原件以及細(xì)線（扁平帶狀線纜）。
ES 00電場(chǎng)源探頭
ES 00場(chǎng)源可用于產(chǎn)生大面積（150cm2）區(qū)域狀或線狀的耦合電場(chǎng)。有時(shí)受試設(shè)備的電場(chǎng)敏感點(diǎn)的區(qū)域會(huì)很大，如LCD顯示器及總線系統(tǒng)，其敏感區(qū)域可能會(huì)達(dá)到10?15厘米。使用如ES 00這樣大面積的電場(chǎng)場(chǎng)源，能夠測(cè)試出這樣的薄弱點(diǎn)。ES 00還可用于將干擾電流耦合給模塊。
ES 01電場(chǎng)源探頭
該場(chǎng)源探頭適合于向5至10厘米范圍內(nèi)的區(qū)域狀或線狀薄弱點(diǎn)施加電場(chǎng)干擾，其范圍介于ES 02和ES 00之間。用ES 01還可以將干擾電流耦合給模塊。
ES 02電場(chǎng)源探頭
該場(chǎng)源的面積較大，能夠大范圍地向機(jī)箱表面及內(nèi)部區(qū)域、連接件、帶導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的模塊以及集成電路（如總線系統(tǒng)，液晶顯示器）等施加耦合干擾電場(chǎng)。該場(chǎng)源的尖端部位，可用于定位對(duì)電場(chǎng)敏感的小面積薄弱點(diǎn)（導(dǎo)線、晶振、上拉電阻、IC等）。
ES 05D電場(chǎng)源探頭
該電場(chǎng)場(chǎng)源的探頭內(nèi)有一個(gè)狹窄的線狀耦合電極，特別適合于向布線、小型元件及其連接器、線纜及單個(gè)的SMD元件如電阻和電容等施加電場(chǎng)，同時(shí)它還可以用于測(cè)量那些單個(gè)的接插件或扁平帶狀電纜的芯線。
ES 08D電場(chǎng)源探頭
電場(chǎng)源ES 08D是一個(gè)探針，用于檢查集成電路引腳或者布線等的敏感度。檢測(cè)時(shí)，探頭的尖端連接到引腳或布線。通過(guò)改變SGZ21的脈沖群強(qiáng)度檢測(cè)引腳的靈敏度。
MS 02磁場(chǎng)探頭
這種磁場(chǎng)探頭用于測(cè)量受試設(shè)備中的爆沖磁場(chǎng)。借此可以查明干擾電流的路徑。使用時(shí)，把這種磁場(chǎng)探頭接到SGZ 21脈沖群發(fā)生器。
品牌：Langer EMV-Technik
型號(hào)：E1 set
印刷電路板抗干擾性E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)
簡(jiǎn)短介紹：
Langer抗干擾開發(fā)系統(tǒng)E1套件：
E1抗干擾性開發(fā)系統(tǒng)是一套集成電路板開發(fā)過(guò)程中進(jìn)行抗干擾分析的 EMC工具系統(tǒng)。采用E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)，能夠快速精準(zhǔn)地定位脈沖群干擾和靜電放電干擾的原因（薄弱點(diǎn)），使工程師開發(fā)人員能夠準(zhǔn)確針對(duì)薄弱點(diǎn)設(shè)計(jì)恰當(dāng)?shù)?EMC措施，并且使用 E1 評(píng)估 EMC措施的效果。E1 檢測(cè)設(shè)備的搭建空間小，適宜于在電子元件開發(fā)人員的工作場(chǎng)地使用。E1 用戶手冊(cè)對(duì)EMC工作機(jī)制以及集成電路板去干擾的基本測(cè)量策略作出詳細(xì)描述。E1 組套包括一個(gè)脈沖群干擾和靜電放電干擾發(fā)生器、九種不同的電場(chǎng)和磁場(chǎng)源、以及其他各類附件。
Langer抗干擾開發(fā)系統(tǒng)E1套件配置:
1x SGZ 21, 脈沖群發(fā)生器 - 脈沖密度計(jì)數(shù)器
1x S21, 光學(xué)傳感器（10 Mbps）
1x BS 02
1x BS 04DB, 磁場(chǎng)源探頭
1x BS 05D, 磁場(chǎng)源
1x BS 05DU, 磁場(chǎng)源探頭
1x ES 00, 電場(chǎng)源探頭
1x ES 01, 電場(chǎng)源探頭
1x ES 02, 電場(chǎng)源探頭
1x ES 05D, 電場(chǎng)源探頭
1x ES 08D, 電場(chǎng)源探頭
1x MS 02, 磁場(chǎng)探頭
1x E1 acc
1x NT FRI EU
1x E1 case, System case
1x E1 m, E1系列 用戶手冊(cè)
詳細(xì)介紹：
SGZ 21脈沖群發(fā)生器 - 脈沖密度計(jì)數(shù)器
脈沖群發(fā)生器SGZ21產(chǎn)生零電勢(shì)脈沖狀干擾信號(hào)。它采用電氣隔離的對(duì)稱輸出。SGZ21的電流脈沖可以部分地與構(gòu)件、電纜、屏蔽或者接地系統(tǒng)耦合；可以注入模塊，或者間接通過(guò)場(chǎng)源耦合進(jìn)入受測(cè)設(shè)備。SGZ21內(nèi)置一個(gè)脈沖密度計(jì)數(shù)器，通過(guò)光學(xué)輸入端口測(cè)量模塊產(chǎn)生的信號(hào)。
S21光學(xué)傳感器（10 Mbps）
S21 型傳感器是一個(gè)數(shù)字探頭，在猝發(fā)序列試驗(yàn)中，無(wú)反作用地傳遞受試設(shè)備發(fā)出的數(shù)字信號(hào)。使用時(shí)將其固定在受試設(shè)備的電路板上，由受試設(shè)備供電。數(shù)字信號(hào)在傳感器中被轉(zhuǎn)換為光學(xué)信號(hào)，并通過(guò)光纖傳遞至接收器或示波器。
BS 04DB磁場(chǎng)源探頭
BS 04DB產(chǎn)生毫米級(jí)范圍的磁場(chǎng)束特別適用于定位敏感的導(dǎo)線部分、元器件及其連接器件。測(cè)試時(shí)用場(chǎng)源端部射出的電場(chǎng)束來(lái)掃描受試設(shè)備的表面。
BS 05D磁場(chǎng)源
BS 05D產(chǎn)生直徑大于3mm的磁場(chǎng)束。磁場(chǎng)線的方向與場(chǎng)源手柄成90°，因此特別適用于定位兩個(gè)集成電路板之間以及集成電路上很難靠近區(qū)域的薄弱點(diǎn)，例如元器件之間的區(qū)域。實(shí)際應(yīng)用時(shí)，一般應(yīng)該先用場(chǎng)源BS 02或BS 04DB對(duì)薄弱點(diǎn)進(jìn)行粗略定位，而后再使用BS 05D進(jìn)行精確定位。
BS 05DU磁場(chǎng)源探頭
BS 05DU產(chǎn)生毫米級(jí)范圍的磁場(chǎng)束。它的工作原理如同耦合鉗，能夠?qū)⒏蓴_電流有選擇地耦合到單個(gè)導(dǎo)體、IC引腳、SMD原件以及細(xì)線（扁平帶狀線纜）。
ES 00電場(chǎng)源探頭
ES 00場(chǎng)源可用于產(chǎn)生大面積（150cm2）區(qū)域狀或線狀的耦合電場(chǎng)。有時(shí)受試設(shè)備的電場(chǎng)敏感點(diǎn)的區(qū)域會(huì)很大，如LCD顯示器及總線系統(tǒng)，其敏感區(qū)域可能會(huì)達(dá)到10?15厘米。使用如ES 00這樣大面積的電場(chǎng)場(chǎng)源，能夠測(cè)試出這樣的薄弱點(diǎn)。ES 00還可用于將干擾電流耦合給模塊。
ES 01電場(chǎng)源探頭
該場(chǎng)源探頭適合于向5至10厘米范圍內(nèi)的區(qū)域狀或線狀薄弱點(diǎn)施加電場(chǎng)干擾，其范圍介于ES 02和ES 00之間。用ES 01還可以將干擾電流耦合給模塊。
ES 02電場(chǎng)源探頭
該場(chǎng)源的面積較大，能夠大范圍地向機(jī)箱表面及內(nèi)部區(qū)域、連接件、帶導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的模塊以及集成電路（如總線系統(tǒng)，液晶顯示器）等施加耦合干擾電場(chǎng)。該場(chǎng)源的尖端部位，可用于定位對(duì)電場(chǎng)敏感的小面積薄弱點(diǎn)（導(dǎo)線、晶振、上拉電阻、IC等）。
ES 05D電場(chǎng)源探頭
該電場(chǎng)場(chǎng)源的探頭內(nèi)有一個(gè)狹窄的線狀耦合電極，特別適合于向布線、小型元件及其連接器、線纜及單個(gè)的SMD元件如電阻和電容等施加電場(chǎng)，同時(shí)它還可以用于測(cè)量那些單個(gè)的接插件或扁平帶狀電纜的芯線。
ES 08D電場(chǎng)源探頭
電場(chǎng)源ES 08D是一個(gè)探針，用于檢查集成電路引腳或者布線等的敏感度。檢測(cè)時(shí)，探頭的尖端連接到引腳或布線。通過(guò)改變SGZ21的脈沖群強(qiáng)度檢測(cè)引腳的靈敏度。
MS 02磁場(chǎng)探頭
這種磁場(chǎng)探頭用于測(cè)量受試設(shè)備中的爆沖磁場(chǎng)。借此可以查明干擾電流的路徑。使用時(shí)，把這種磁場(chǎng)探頭接到SGZ 21脈沖群發(fā)生器。
