產(chǎn)品詳情
Agilent 4268A 電容測(cè)試儀廠(chǎng)商名稱(chēng)： Agilent(美國(guó)安捷倫) 惠普HP商品名稱(chēng)： LCR測(cè)試儀 對(duì)大數(shù)值陶瓷電容器測(cè)試有恒定不變的測(cè)試電平?高速測(cè)量：25ms?快速接觸檢查?9倉(cāng)室比較器Agilent 4268A電容測(cè)試儀能以恒定的高電平測(cè)試信號(hào)高速測(cè)量大數(shù)值的多層陶瓷電容器（MLCC）。恒定測(cè)試電平功能允許在1kHz、1Vrms條件下對(duì)直到70μF的MLCC進(jìn)行測(cè)試，并符合IEC384-10標(biāo)準(zhǔn)。120Hz測(cè)量能對(duì)達(dá)600μF提供恒定1V測(cè)試信號(hào)。4268A可以在25ms內(nèi)提供被測(cè)值及比較器結(jié)果，使MLCC生產(chǎn)線(xiàn)有測(cè)試效率。主要技術(shù)指標(biāo)：測(cè)量參數(shù) Cs,Cp,D,Q,Rs,Rp,G測(cè)試頻率： 120Hz和1kHz測(cè)試信號(hào)電平： 0.1~1Vrms,±10%以0.01 Vrms步進(jìn) 測(cè)量范圍： 測(cè)量參數(shù) 120Hz 1kHzC 0.01nF~939999mF 0.0001nF~999.99μFD 0.001~9.9999 0.0001-~9.9999 恒定測(cè)試電平范圍（典型值） 測(cè)試電壓 120Hz 1kHz0.5Vrms C≤1200μF C≤140μF1Vr
Agilent 4268A 電容測(cè)試儀的詳細(xì)介紹
Agilent 4268A電容測(cè)試儀 廠(chǎng)商名稱(chēng)：Agilent(美國(guó)安捷倫)惠普HP商品名稱(chēng)：LCR測(cè)試儀 對(duì)大數(shù)值陶瓷電容器測(cè)試有恒定不變的測(cè)試電平
·高速測(cè)量：25ms
·快速接觸檢查
·9倉(cāng)室比較器Agilent 4268A電容測(cè)試儀能以恒定的高電平測(cè)試信號(hào)高速測(cè)量大數(shù)值的多層陶瓷電容器（MLCC）。恒定測(cè)試電平功能允許在1kHz、1Vrms條件下對(duì)直到70μF的MLCC進(jìn)行測(cè)試，并符合IEC384-10標(biāo)準(zhǔn)。120Hz測(cè)量能對(duì)達(dá)600μF提供恒定1V測(cè)試信號(hào)。4268A可以在25ms內(nèi)提供被測(cè)值及比較器結(jié)果，使MLCC生產(chǎn)線(xiàn)有測(cè)試效率。主要技術(shù)指標(biāo)：測(cè)量參數(shù)
Cs,Cp,D,Q,Rs,Rp,G
測(cè)試頻率：
120Hz和1kHz
測(cè)試信號(hào)電平：
0.1~1Vrms,±10%以0.01
Vrms步進(jìn)
測(cè)量范圍：
測(cè)量參數(shù)
120Hz
1kHz
C
0.01nF~939999mF
0.0001nF~999.99μF
D
0.001~9.9999
0.0001-~9.9999
恒定測(cè)試電平范圍（典型值）
測(cè)試電壓
120Hz
1kHz
0.5Vrms
C≤1200μF
C≤140μF
1Vrms
C≤600μF
C≤70μF
測(cè)量時(shí)間：
25ms/45ms/60ms（典型值）
接觸檢查：
在5ms內(nèi)以4端連接接觸故障
比較器：
9倉(cāng)室輸出至處理器接口
接口：
處理器，GPIB和供選用的掃描器接口
一般技術(shù)指標(biāo)：電源要求：
90V-132V或198-264V，47-66Hz，100VAmax
工作溫度/濕度：
0°~45℃,在40℃時(shí)相對(duì)濕度≤95%
尺寸：
320mm(寬）*100mm(寬）*450mm(長(zhǎng)）（12.6英寸*3.94英寸*17.72英寸
