產(chǎn)品詳情
XTDIC三維全場應(yīng)變測量分析系統(tǒng)，結(jié)合數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)（DIC）與雙目立體視覺技術(shù)，通過追蹤物體表面的散斑圖像，實(shí)現(xiàn)變形過程中物體表面的三維坐標(biāo)、位移及應(yīng)變的測量，具有便攜，速度快，精度高，易操作等特點(diǎn)。
系統(tǒng)組成：統(tǒng)主要由測量頭、控制箱、標(biāo)定板、標(biāo)志點(diǎn)、計(jì)算機(jī)及檢測分析軟件等組成系統(tǒng)應(yīng)該包含系統(tǒng)測量頭（含兩臺高速工業(yè)相機(jī)、進(jìn)口相機(jī)鏡頭，帶萬向手柄可調(diào)節(jié)LED光源）、相機(jī)同步控制觸發(fā)控制箱、系統(tǒng)標(biāo)定板、系統(tǒng)可移動支撐架、動態(tài)采集分析軟件、載荷加壓控制通訊接口、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)等組成。
1.1 主要應(yīng)用
XTDIC 三維數(shù)字散斑動態(tài)變形測量分析系統(tǒng)是實(shí)驗(yàn)力學(xué)領(lǐng)域中一種重要的測試方法，其主要應(yīng)用有：
在材料力學(xué)性能測量方面：DIC已成功應(yīng)用于各種復(fù)雜材料的力學(xué)性能測試中。如火箭發(fā)動劑固體燃料、橡膠、光纖、壓電薄膜、復(fù)合材料以及木材、巖石、土方等天然材料的力學(xué)性能的檢測中。值得注意的是，DIC被廣泛應(yīng)用于破壞力學(xué)研究中，包括裂紋尖端應(yīng)變場測量、裂紋尖端張開位移測量以及高溫下裂紋尖端應(yīng)變場測量等。
在細(xì)觀力學(xué)測量方面：借助于掃描電子顯微鏡(SEM)、掃描隧道電子顯微鏡(STEM)以及原子力顯微鏡(AFM)，DIC被越來越多地應(yīng)用于細(xì)觀力學(xué)測量。最近，數(shù)字散斑相關(guān)方法還被應(yīng)用于物體表面粗糙度的測量中。
在損傷與破壞檢測方面：DIC被應(yīng)用于多種復(fù)雜材料，如巖石、炸藥材料的破壞檢測中。DIC還被應(yīng)用于一些特殊器件，如陶瓷電容器、電子器件，電子封裝的無損檢測研究中。
在生物力學(xué)測量方面：DIC被應(yīng)用于測量手術(shù)復(fù)位后肱骨頭在內(nèi)旋轉(zhuǎn)及前屈運(yùn)動下大小結(jié)節(jié)的相對位移量，以及頸椎內(nèi)固定器對人體頸椎運(yùn)動生物力學(xué)性能的影響等。
對于大中專院校的研究教學(xué)應(yīng)用，本系統(tǒng)開展各種軟組織、金屬及復(fù)合材料性能測試、力學(xué)性能測試分析、有限元分析驗(yàn)證等研究和教學(xué)實(shí)驗(yàn)，具有大至1000%應(yīng)變測量范圍，并可以實(shí)時計(jì)算、實(shí)現(xiàn)動態(tài)全場的應(yīng)變變形測量。在土木工程的相關(guān)研究中，如四點(diǎn)彎試件、半圓弧試件、懸臂梁實(shí)驗(yàn)，對應(yīng)完整實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)方案，以非接觸式的方式提升研究手段，提高研究能力。亦可為學(xué)生提供可視化的教學(xué)工具，讓學(xué)生的基礎(chǔ)學(xué)習(xí)課程變得直觀和可視，使復(fù)雜問題簡單化、抽象問題直觀化、隱蔽問題可視化。
1.1 系統(tǒng)功能
（1）基本測量功能：
（2）分析報(bào)告功能
（3）采集控制功能
（4）預(yù)留擴(kuò)展接口：
