產(chǎn)品詳情
美國(guó)泰克370A晶體管測(cè)試儀Tektronix370B
附加的功能：
使用 370B 進(jìn)行高分辨率直流參數(shù)測(cè)量（分辨率低至 1 pA 或 2 μV）
使用 371B 提供高電壓和電流（高達(dá) 3,000 V 或 400 A）
內(nèi)置光標(biāo)測(cè)量 - 點(diǎn)、窗口和功能線
開爾文感應(yīng)測(cè)量
掃描測(cè)量模式
波形比較和平均
完全可編程
1.44 MB 軟盤驅(qū)動(dòng)器存儲(chǔ)曲線的設(shè)置和位圖
使用第三方打印機(jī)直接硬拷貝
半導(dǎo)體的參數(shù)表征
故障分析
數(shù)據(jù)表生成
制造測(cè)試
過(guò)程監(jiān)控和質(zhì)量控制
即將到來(lái)的檢查
組件匹配
泰克 370B 提供高達(dá) 20 A/2,000 V 的輸出能力以及 1 pA 和 50 micro V 的測(cè)量分辨率。370B 對(duì)集成電路、晶體管、晶閘管、二極管、SCR、MOSFET、電光元件、太陽(yáng)能電池、固態(tài)繼電器和其他半導(dǎo)體器件進(jìn)行直流參數(shù)表征。它具有按鈕源和測(cè)量配置，因此可以輕松地從一個(gè)測(cè)試更改為下一個(gè)測(cè)試。
