產(chǎn)品詳情
分析原理：球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，無論是光學(xué)透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統(tǒng)都無法做到完美。光學(xué)透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強(qiáng)中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法會聚到一個焦點(diǎn)的缺點(diǎn)，可對于電磁透鏡，我們沒有凹透鏡，球差便成了影響TEM分辨率最主要也最難解決的問題。用球差校正裝置扮演凹透鏡修正球差的透射電鏡即為球差透射電鏡，消除了一些透射系統(tǒng)中存在的球面像差，將透射電鏡的分辨率提高到了亞埃極（0.06nm）。
可做項(xiàng)目：TEM，STEM，EDS，Mapping，SAED，EELS。
制樣用微柵或者超薄碳膜；所有的樣品拍攝之前需要用高分辨TEM預(yù)觀察，確保樣品制備成功；含磁性元素樣品，必須提供粉末或者原樣用于驗(yàn)證磁性；
1、塊體用fib制樣，厚度30nm左右；粉末提供10mg左右；
2、納米顆?；蛘呒{米片建議用微柵或者超薄碳膜制樣；
1. 樣品為什么會積碳，積碳有什么影響？
答：樣品中有機(jī)物的影響，制備過程含有機(jī)物，或者樣品吸附空氣中污染物；積碳會影響STEM模式的拍攝效果，讓視野模糊不清。
2. 有什么方法可以改善積碳帶來的影響？是否一定有用？
答：等離子清洗制好樣的載網(wǎng)，但有洗壞樣品的風(fēng)險(xiǎn)，可以會導(dǎo)致負(fù)載顆粒脫落等風(fēng)險(xiǎn)；電子束輻照樣品一段時間，理論上會有改善，但是實(shí)際不一定會有明顯效果。
