產(chǎn)品詳情
設備簡介
日本電子JEM-2100F透射(TEM-UHR型)
配有掃描透射(STEM)裝置,能量色散X射線光譜儀(EDS)裝置和CCD相機

設備技術參數(shù):
電子槍加速電壓:最高200KV
放大倍數(shù):20000-1500000; 放大倍數(shù)誤差≤±10%;
分辨率:點分辨率:0.19nm; 晶格分辨率:0.1nm;
掃描透射分辨率: 0.20nm。
制樣設備:
1.Tenupol-5電解雙噴減薄儀;
2.PIPS II695精密離子減薄儀;
3.IsoMet 4000精密切割機
應用領域
用于合金、半導體、納米粉末、涂層等先進材料的研究,能在原子尺度上表征他們的顯微組織形貌和微觀結(jié)構(gòu),探索材料微觀世界的奧妙,并能對內(nèi)部的不同物相進行電子衍射分析,確定其晶體結(jié)構(gòu),同時還可以對材料的化學成分進行定性和半定量分析。



