相控陣探傷檢測(cè)技術(shù)的高效性和準(zhǔn)確性在很大程度上依賴于探頭的性能和選擇。探頭作為超聲信號(hào)的發(fā)射和接收裝置，其參數(shù)和類型直接影響檢測(cè)結(jié)果的質(zhì)量。因此，在選擇相控陣探傷檢測(cè)設(shè)備的探頭時(shí)，需要綜合考慮多個(gè)因素，以確保其能夠滿足特定檢測(cè)任務(wù)的需求。
  1. 探頭類型
  相控陣探頭主要分為線性陣列探頭和矩陣探頭。線性陣列探頭適用于平面或曲率較小的表面檢測(cè)，能夠?qū)崿F(xiàn)快速的線性掃查，適合檢測(cè)方向性較強(qiáng)的缺陷，如裂紋和未熔合。矩陣探頭則具有更高的靈活性，能夠在二維平面上進(jìn)行波束偏轉(zhuǎn)和聚焦，適用于復(fù)雜形狀的部件或需要大面積覆蓋的檢測(cè)場(chǎng)景。選擇探頭類型時(shí)，應(yīng)根據(jù)被檢測(cè)物體的幾何形狀和檢測(cè)需求來(lái)決定。
  2. 頻率選擇
  探頭的頻率決定了超聲波的穿透能力和分辨率。高頻探頭（如10MHz及以上）能夠提供更高的分辨率，適合檢測(cè)表面或近表面的細(xì)小缺陷，但其穿透能力相對(duì)較弱。低頻探頭（如2MHz及以下）則具有更強(qiáng)的穿透能力，適合檢測(cè)較厚的材料或深層缺陷，但分辨率較低。在選擇探頭頻率時(shí)，需要根據(jù)被檢測(cè)材料的厚度和缺陷的預(yù)期位置來(lái)平衡穿透能力和分辨率。
  3. 晶片數(shù)量與尺寸
  晶片數(shù)量和尺寸影響探頭的波束控制能力和檢測(cè)精度。晶片數(shù)量越多，波束的偏轉(zhuǎn)角度范圍越大，聚焦精度越高，但成本也越高。晶片尺寸則影響波束的寬度和聚焦能力，較小的晶片可以實(shí)現(xiàn)更細(xì)的波束和更高的分辨率，但信號(hào)強(qiáng)度可能較弱。在選擇探頭時(shí)，應(yīng)根據(jù)檢測(cè)精度要求和預(yù)算來(lái)確定晶片數(shù)量和尺寸。
  4. 探頭角度
  探頭的偏轉(zhuǎn)角度范圍是相控陣探傷檢測(cè)的重要參數(shù)之一。不同的檢測(cè)任務(wù)可能需要不同的角度范圍。例如，檢測(cè)焊縫時(shí)可能需要較大的角度范圍來(lái)覆蓋焊縫兩側(cè)的區(qū)域，而檢測(cè)管道時(shí)則需要較小的角度范圍以避免信號(hào)的過(guò)度擴(kuò)散。在選擇探頭時(shí)，應(yīng)確保其角度范圍能夠滿足檢測(cè)任務(wù)的要求。
  5. 探頭的封裝形式
  探頭的封裝形式需要適應(yīng)被檢測(cè)物體的表面條件和檢測(cè)環(huán)境。例如，對(duì)于高溫環(huán)境或粗糙表面，需要選擇具有耐高溫或耐磨涂層的探頭。對(duì)于難以接觸的部位，可能需要選擇帶有柔性電纜或特殊形狀的探頭。此外，探頭的尺寸和重量也會(huì)影響操作的便利性，特別是在需要長(zhǎng)時(shí)間手持操作的情況下。
  6. 探頭與檢測(cè)設(shè)備的兼容性
  選擇探頭時(shí)，還需要考慮其與相控陣探傷檢測(cè)設(shè)備的兼容性。不同品牌的檢測(cè)設(shè)備可能對(duì)探頭的接口、通信協(xié)議和控制方式有不同的要求。確保探頭與設(shè)備能夠無(wú)縫對(duì)接，能夠充分發(fā)揮探頭的性能，同時(shí)避免因兼容性問(wèn)題導(dǎo)致的檢測(cè)效率降低。
  https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/ndt-tutorials/intro/ut/